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故障検出システム、生成回路及びプログラム 新技術説明会

国内特許コード P160012773
整理番号 (S2012-0746-N0)
掲載日 2016年2月10日
出願番号 特願2014-516759
出願日 平成25年5月14日(2013.5.14)
国際出願番号 JP2013063393
国際公開番号 WO2013175998
国際出願日 平成25年5月14日(2013.5.14)
国際公開日 平成25年11月28日(2013.11.28)
優先権データ
  • 特願2012-117842 (2012.5.23) JP
発明者
  • 佐藤 康夫
  • 王 森▲レイ▼
  • 宮瀬 紘平
  • 梶原 誠司
出願人
  • 国立研究開発法人科学技術振興機構
発明の名称 故障検出システム、生成回路及びプログラム 新技術説明会
発明の概要 故障検出率を維持しつつ、スキャンアウト時のシフトパワーの削減を図ることを可能とする、故障検出システム等を提供することを目的とする。
スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システムであって、複数のフリップフロップと、キャプチャモードにおける最終キャプチャであることを示す最終信号を生成する最終信号生成手段と、論理回路ともフリップフロップとも異なり、一部のフリップフロップに対して、最終信号を受信した場合に論理値を指定する指定手段と、論理回路からキャプチャされたテスト出力であって指定手段が指定した論理値を含むものと、論理回路が故障していない場合のテスト出力であって指定手段が指定した論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行う故障検出装置とを備える、故障検出システムである。
従来技術、競合技術の概要


スキャンテスト時の消費電力が増大すると、電源電圧が一時的に低下するIRドロップが生じる。このとき、論理回路が誤動作し、誤ったテスト応答値がスキャンフリップフロップに取り込まれることがある。すると、通常時には正常に動作する論理回路がテスト時に不良品と判定されてしまうという誤テストが発生する。その結果、歩留りが低下する。特に、半導体論理回路が超大規模化、超微細化、低電源電圧化した場合、誤テストによる歩留り低下は顕著である。そこで、スキャンテスト時の消費電力を低減することが重要となる。



スキャンテストにおける消費電力は、キャプチャモード時の消費電力(キャプチャパワー)とシフトモード時の消費電力(シフトパワー)に大別される。さらに、シフトパワーは、スキャンインに伴うものとスキャンアウトに伴うものに分けられる。本願の発明者等は、このうち、キャプチャパワーの低減(特許文献1参照)及びスキャンインに伴うシフトパワーの低減(特許文献2参照)を可能とする故障検出システムを開発してきた。

産業上の利用分野


本発明は、故障検出システム、生成回路及びプログラムに関し、特に、スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システム等に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システムであって、
複数のフリップフロップと、
キャプチャモードにおける最終キャプチャであることを示す最終信号を生成する最終信号生成手段と、
前記論理回路とも前記フリップフロップとも異なり、一部の前記フリップフロップに対して、前記最終信号を受信した場合に論理値を指定する指定手段と、
前記論理回路からキャプチャされたテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものと、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力であって前記指定手段が指定した論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行う故障検出装置とを備える、故障検出システム。

【請求項2】
同一のキャプチャモードにおいて複数回のキャプチャを行うものであり、
前記フリップフロップに接続して、他のフリップフロップを経由せずに論理値を取り出す取出回路と、
前記指定手段が論理値を指定する対象となるフリップフロップを選択する選択手段とをさらに備え、
前記選択手段は、前記取出回路に接続しているフリップフロップから選択する、請求項1記載の故障検出システム。

【請求項3】
前記選択手段は、トグルが集中する箇所のフリップフロップ、スキャンアウト電力に影響の大きいトグルがあるフリップフロップ、又は、前後のフリップフロップのビットの平均値と相違の多い論理値を有するフリップフロップから、優先的に前記論理値を指定する対象となるフリップフロップを選択する、請求項2記載の故障検出システム。

【請求項4】
同一のキャプチャモードにおいて複数回のキャプチャを行うものであり、
前記指定手段が論理値を指定する対象となるフリップフロップを選択する選択手段をさらに備え、
前記選択手段は、最後にキャプチャされた論理値が直前にキャプチャされた論理値と同一であるフリップフロップから選択する、請求項1記載の故障検出システム。

【請求項5】
前記選択手段は、同一スキャンチェーンから複数のフリップフロップを選択する場合には隣接しないフリップフロップから選択し、
前記指定手段は、選択されたフリップフロップに対して、同一スキャンチェーン内で前記選択されたフリップフロップに隣接するフリップフロップの論理値を指定する、請求項4記載の故障検出システム。

【請求項6】
前記指定手段は、前記選択手段に選択されたフリップフロップに対して、0若しくは1の一定の論理値、同一スキャンチェーン内の隣接するフリップフロップが有する論理値、若しくは、同一スキャンチェーン内の2つ前のフリップフロップが有する論理値と同一の論理値を指定し、又は、複数のフリップフロップの論理値を参照して論理値を指定する、請求項2から5のいずれかの請求項に記載の故障検出システム。

【請求項7】
スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システムにおいて、フリップフロップに対して論理値を生成して与える生成回路であって、
前記論理回路ともフリップフロップとも異なるものであり、
キャプチャモードにおける最終キャプチャを行ったフリップフロップに対して論理値を与える、生成回路。

【請求項8】
スキャンテストにより論理回路の故障を検出するために、コンピュータを、
前記論理回路からキャプチャされたテスト出力の一部に前記論理回路とは異なる指定手段が指定した論理値を与えたものと、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力の一部に前記指定手段が指定した論理値を与えたものとを比較することにより故障検出を行う故障検出手段として機能させるためのプログラム。

【請求項9】
スキャンテストにより論理回路の故障を検出する故障検出システムにおける故障検出方法であって、
キャプチャモードにおける最終キャプチャの後に、フリップフロップに対して論理値を指定する指定ステップと、
前記論理回路からキャプチャされたテスト出力であって前記指定ステップにおいて指定された論理値を含むものと、前記論理回路が故障していない場合のテスト出力であって前記指定ステップにおいて指定された論理値を含むものとを比較することにより故障検出を行う故障検出ステップとを含む、故障検出方法。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2014516759thum.jpg
出願権利状態 公開
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