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放射線曝露原因の推定方法及び推定システム

国内特許コード P160013224
整理番号 S2015-0272-N0
掲載日 2016年8月18日
出願番号 特願2014-254228
公開番号 特開2016-114505
出願日 平成26年12月16日(2014.12.16)
公開日 平成28年6月23日(2016.6.23)
発明者
  • 田村 拓也
  • 盛武 敬
  • 石垣 陽
出願人
  • 学校法人産業医科大学
  • ヤグチ電子工業株式会社
発明の名称 放射線曝露原因の推定方法及び推定システム
発明の概要 【課題】放射線をもたらす原因を、簡便に推定する放射線曝露原因の推定方法及びそのシステムを提供する。
【解決手段】放射線曝露原因の推定システムは、空間放射線量及び浮遊粒子状物質の濃度と複数種の放射線曝露原因それぞれとの関係を定めた判定基準17を記憶した記憶部15と、空間放射線量及び浮遊粒子状物質の濃度を計測する計測部11と、判定基準17を基に、空間放射線量及び浮遊粒子状物質の濃度の各計測値から、計測部11が空間放射線量及び浮遊粒子状物質の濃度を計測した場所の放射線曝露原因を導き出す推定部12とを備える。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要


従来、放射線源に関しては、調査対象地点の空気を採取し、放射線エネルギーのスペクトル解析により、その空気に含まれる放射性物質を同定した後、核物理学の専門家やCBRNテロ(化学、生物、放射性物質、核兵器を用いるテロ)の専門家によって放射線をもたらす原因が推定される。
放射線エネルギーのスペクトル解析についての具体例は、例えば、特許文献1に記載されている。

産業上の利用分野


本発明は、放射線をもたらす原因を推定する放射線曝露(暴露)原因の推定方法及びそのシステムに関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
空間放射線量及び浮遊粒子状物質の濃度と複数種の放射線曝露原因それぞれとの関係を定めた判定基準を作成する準備工程と、
前記放射線曝露原因の調査対象地点で、前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度をそれぞれ計測する測定工程と、
前記判定基準を基に、前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値から、前記調査対象地点の前記放射線曝露原因を導き出す推定工程とを有する放射線曝露原因の推定方法。

【請求項2】
請求項1記載の放射線曝露原因の推定方法において、前記判定基準は、X軸及びY軸の一方及び他方がそれぞれ前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度を示す二次元座標系に、前記複数種の放射線曝露原因がマッピングされた二次元マップであり、前記推定工程では、前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値を座標とする点が前記二次元マップ上にプロットされることを特徴とする放射線曝露原因の推定方法。

【請求項3】
請求項1又は2記載の放射線曝露原因の推定方法において、前記調査対象地点は複数の異なる場所に存在し、前記複数の調査対象地点それぞれで計測された前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値から、進入が制限されるべき場所を特定する制限特定工程を、更に有することを特徴とする放射線曝露原因の推定方法。

【請求項4】
請求項3記載の放射線曝露原因の推定方法において、前記複数の調査対象地点それぞれで計測された前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値と、それぞれの計測時刻の情報とを基にして、放射線の拡散を推定する拡散予測工程を、更に有することを特徴とする放射線曝露原因の推定方法。

【請求項5】
空間放射線量及び浮遊粒子状物質の濃度と複数種の放射線曝露原因それぞれとの関係を定めた判定基準を記憶した記憶部と、
前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度を計測する計測部と、
前記判定基準を基に、前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値から、前記計測部が前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度を計測した場所の前記放射線曝露原因を導き出す推定部とを備える放射線曝露原因の推定システム。

【請求項6】
請求項5記載の放射線曝露原因の推定システムにおいて、前記判定基準は、X軸及びY軸の一方及び他方がそれぞれ前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度を示す二次元座標系に、前記複数種の放射線曝露原因がマッピングされた二次元マップであり、前記推定部は前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値を座標とする点を前記二次元マップ上にプロットすることを特徴とする放射線曝露原因の推定システム。

【請求項7】
請求項5又は6記載の放射線曝露原因の推定システムにおいて、前記計測部は、複数あって、2か所以上の異なる場所に分散して、前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度を計測し、
前記複数の計測部それぞれから前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値を測定位置情報と共に取得する演算部を設け、前記演算部は、進入が制限されるべき場所を特定することを特徴とする放射線曝露原因の推定システム。

【請求項8】
請求項7記載の放射線曝露原因の推定システムにおいて、前記演算部は、前記複数の計測部それぞれから前記空間放射線量及び前記浮遊粒子状物質の濃度の各計測値を、前記測定位置情報及び計測時刻の情報と共に取得して、放射線の拡散を推定することを特徴とする放射線曝露原因の推定システム。
国際特許分類(IPC)
Fターム
  • 2G188AA08
  • 2G188AA19
  • 2G188AA23
  • 2G188CC08
  • 2G188CC28
  • 2G188EE25
  • 2G188EE27
  • 2G188GG09
画像

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JP2014254228thum.jpg
出願権利状態 公開


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