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材料試験装置 NEW コモンズ

国内特許コード P160013507
整理番号 DP1730
掲載日 2016年11月25日
出願番号 特願2015-225936
公開番号 特開2016-105083
出願日 平成27年11月18日(2015.11.18)
公開日 平成28年6月9日(2016.6.9)
優先権データ
  • 特願2014-235695 (2014.11.20) JP
発明者
  • 田中 和人
  • 片山 傳生
出願人
  • 学校法人同志社
発明の名称 材料試験装置 NEW コモンズ
発明の概要 【課題】引張試験を適正に行うことが可能な材料試験装置を提供する。
【解決手段】材料試験装置100は、第1保持部10と、第2保持部20と、ヒータ61,62とを備えている。第1保持部10は、試験片5の一端部5aを保持する。第2保持部20は、第1保持部10と対向するように配置され、試験片5の他端部5bを保持する。ヒータ61,62は、熱を照射する照射部61a,62aを備え、照射部61a,62aを第1保持部10と第2保持部20との間の空間に向けて配置されている。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要


例えば、特許文献1には、材料試験装置(引用文献1では、引張試験機が例示されている。)が開示されている。特許文献1に記載された材料試験装置は、ジェットエンジンのタービンなどの高温部分に使用される部品(金属)である試験片(特許文献1では、供試体と称されている。)の引張試験を行うものである。高温部分に使用される試験片の引張試験を行う際には、クリープなどの影響を考慮すべく使用状態の温度となるように、試験片を加熱した上で、引張試験を行っている。



特許文献1に記載された材料試験装置では、内部に油圧シリンダを備えた立方体形状の箱体が地面に固定されている。箱体の上面の中央部分には、クロスヘッドが滑動自在に設けられている。クロスヘッドの上端には、第1支持軸が上向きに設けられている。第1支持軸の上端には、第1チャック部が連結されている。箱体の上面の四隅には、垂直方向に延びた4本のビームが設けられている。ビームの上部には、固定部が固定されている。固定部の中央部分には、第2支持軸が下向きに固定されている。第2支持軸の下端には、第2チャック部が連結されている。試験片の両端は、第1チャック部および第2チャック部によって支持されている。試験片、第1チャック部および第2チャック部を覆うような状態で加熱炉が設けられている。



試験片の引張試験を行う際、第1チャック部および第2チャック部によって両端が支持された試験片を加熱炉によって所望の温度まで加熱している。その後、油圧シリンダを駆動させることによって、クロスヘッドを押し下げて第1支持軸を介して試験片を下方に引っ張っている。

産業上の利用分野


本発明は、材料試験装置に関する。

特許請求の範囲 【請求項1】
試験片の一端部を保持する第1保持部と、
前記第1保持部と対向するように配置され、前記試験片の他端部を保持する第2保持部と、
ヒータと
を備え、
前記ヒータは、
熱を照射する照射部を備え、
前記照射部が前記第1保持部と前記第2保持部との間の空間に向くように配置されている、材料試験装置。

【請求項2】
複数の前記ヒータが、前記第1保持部と前記第2保持部との間の空間を挟んで対向するように配置されている、請求項1に記載された材料試験装置。

【請求項3】
前記ヒータは、前記照射部の周縁を囲み、前記第1保持部と前記第2保持部との間の空間に向けて延びたヒータ用カバーを備えている、請求項1または2に記載された材料試験装置。

【請求項4】
前記ヒータは、セラミックヒータ、遠赤外線ヒータ、近赤外線ヒータ、または、ハロゲンヒータである、請求項1から3までの何れか一項に記載された材料試験装置。

【請求項5】
前記第1保持部および前記第2保持部によって保持された試験片を覆うカバー体を備え、
前記ヒータは、前記カバー体の内部に向かって熱を付与する、請求項1から4までの何れか一項に記載された材料試験装置。

【請求項6】
前記第1保持部によって保持された試験片の一端部を冷却する第1冷却部と、
前記第2保持部によって保持された試験片の他端部を冷却する第2冷却部と
を備えた、請求項1から5までの何れか一項に記載された材料試験装置。

【請求項7】
前記第1冷却部は、前記第1保持部と別体に設けられ、
前記第2冷却部は、前記第2保持部と別体に設けられている、請求項6に記載された材料試験装置。

【請求項8】
前記第1冷却部は、前記第1保持部によって保持された試験片に接触する第1接触部材を備え、
前記第1接触部材には、第1の孔が形成され、
前記第2冷却部は、前記第2保持部によって保持された試験片に接触する第2接触部材を備え、
前記第2接触部材には、第2の孔が形成され、
前記第1の孔と前記第2の孔とに冷却媒体を供給する供給装置を備えた、請求項7に記載された材料試験装置。

【請求項9】
前記第1冷却部は、前記第1保持部と一体に設けられ、
前記第2冷却部は、前記第2保持部と一体に設けられている、請求項6に記載された材料試験装置。

【請求項10】
前記第1保持部には、第1の孔が形成され、
前記第2保持部には、第2の孔が形成され、
前記第1の孔と前記第2の孔とに冷却媒体を供給する供給装置を備えた、請求項9に記載された材料試験装置。

【請求項11】
前記第1保持部または前記第1冷却部を覆う上部カバーと、
前記第2保持部または前記第2冷却部を覆う下部カバーと
を備えた、請求項1から10までの何れか一つに記載された材料試験装置。
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2015225936thum.jpg
出願権利状態 公開
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