TOP > クイック検索 > 国内特許検索 > 光学特性測定装置及び光学特性測定方法

光学特性測定装置及び光学特性測定方法 (未公開特許出願)

国内特許コード P170013851
整理番号 S2016-0992-N0
掲載日 2017年3月17日
出願番号 特願2016-161493
出願日 平成28年8月19日(2016.8.19)
発明の名称 光学特性測定装置及び光学特性測定方法 (未公開特許出願)
四国TLOは四国内20大学・高専のシーズをご紹介しております。シーズの詳細内容につきましては下記までお問い合わせください。
お問い合わせをお待ちしております。


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close
close