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走査型プローブ顕微鏡

国内特許コード P03A000453
整理番号 P2000-074-JP01
掲載日 2003年8月28日
出願番号 特願2001-192149
公開番号 特開2003-004619
登録番号 特許第3557459号
出願日 平成13年6月26日(2001.6.26)
公開日 平成15年1月8日(2003.1.8)
登録日 平成16年5月28日(2004.5.28)
発明者
  • 武笠 幸一
  • 末岡 和久
  • 加茂 直樹
  • 細井 浩貴
  • 澤村 誠
出願人
  • 学校法人北海道大学
発明の名称 走査型プローブ顕微鏡
発明の概要 種々の物性測定が可能であるとともに、生化学分野など種々の分野に適用することのできる新規な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。本発明の走査型プローブ顕微鏡における探針2の先端部分に、伝導性のアームチェア型結晶構造を有するカーボンナノチューブ3、又は先端部分が所定の修飾分子で化学的に修飾されたカーボンナノチューブ3を設ける。
従来技術、競合技術の概要
走査型プローブ顕微鏡は、物質表面の状態を高空間分解能で測定することができ、さらにはナノメートルのオーダから原子レベルのオーダの精度で、原子又は分子をマニュピュレートすることができる。したがって、ナノテクノロジー技術における重要な装置技術の地位を占めている。
【0003】
しかしながら、従来の走査型プローブ顕微鏡では物質表面のアスペクト比などに応じた形状などを測定することができるのみで、他の物性、例えば、物質の磁気的構造などを測定することはできない。また、適用できる分野も自ずから限定されてしまい、生化学分野などにおいて利用することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供することができないでいた。
産業上の利用分野
本発明は、走査型プローブ顕微鏡に関する。
特許請求の範囲 【請求項1】カンチレバーと、このカンチレバー上に形成された探針と、この探針の先端部分に形成された、アームチェア型の結晶構造を有し、伝導性を呈するカーボンナノチューブと、前記カーボンナノチューブに接続されたスピン偏極電子源とを具え、
前記スピン偏極電子源から前記カーボンナノチューブを介して磁性試料中にスピン電子を注入せしめ、前記磁性試料の表面磁気構造及びスピン偏極度の空間分布の少なくとも一方を測定することを特徴とする、走査型プローブ顕微鏡。
産業区分
  • 試験、検査
  • 有機化合物
  • 固体素子
  • 測定
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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出願権利状態 権利存続中
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