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観測画像信号解析のための濃淡画像処理方法

国内特許コード P03A000563
整理番号 U2000P159
掲載日 2004年4月16日
出願番号 特願2001-068723
公開番号 特開2002-269541
登録番号 特許第3416736号
出願日 平成13年3月12日(2001.3.12)
公開日 平成14年9月20日(2002.9.20)
登録日 平成15年4月11日(2003.4.11)
発明者
  • 長谷山 美紀
  • 武笠 幸一
  • 末岡 和久
  • 武隈 育子
  • 本多 博之
出願人
  • 学校法人北海道大学
発明の名称 観測画像信号解析のための濃淡画像処理方法
発明の概要 本発明は、電子工学における画像処理分野に関係するもので、特に観察濃淡画像信号を解析する二次元定量解析方法、特に、磁気記録媒体のMFM観察像から磁気記録媒体の磁極領域の形状及び方向性の解析方法に関するものである。本発明の目的は、従来の方法より高精度な解析を可能とする磁気記録媒体のMFM観察像から磁気記録媒体の磁極領域の形状及び方向性を得る方法を提供することである。本発明の解析方法は、磁気記録媒体のMFM観察像に遺伝的アルゴリズムを用いて磁気記録媒体における磁極領域を抽出するステップと、抽出された磁極領域の画素値の平均値をしきい値とし、MFM観察像を二値化し、二値化画像を得るステップと、二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、磁極領域の細線化画像を得るステップと、細線化画像における線要素にハフ変換を適用するステップとで構成されている。本発明は、電子工学にとどまらず、画像処理一般、特に医学(自動診断)の分野にも応用することができる。
従来技術、競合技術の概要 例えば、高密度記録に適した低ノイズ媒体を開発するためには、媒体の磁気クラスタ構造を把握し、記録磁化状態と記録再生特性との関係を明らかにする必要がある。磁気力顕微鏡(Magnetic Force Microscope:MFM)は、媒体の磁化状態を評価する手段として広く用いられており、磁気クラスタの解析にも使用されてきた。MFM信号のクラスタ抽出に用いられている従来の技術は、周波数分布や統計処理を利用して実現されていた。
産業上の利用分野 電子工学における画像処理分野、特に観察濃淡画像信号を解析する二次元定量解析方法、さらに、磁気記録媒体のMFM観察像からの、磁気記録媒体の磁極領域の形状及び方向性の解析
特許請求の範囲 【請求項1】 磁気記録媒体の磁極領域の直線状分布特性を解析する方法において、前記磁気記録媒体のMFM観察像に遺伝的アルゴリズムを用いて前記磁気記録媒体における磁極領域を抽出するステップと、前記抽出された磁極領域の画素値の平均値をしきい値とし、前記MFM観察像を二値化し、二値化画像を得るステップと、前記二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、磁極領域の細線化画像を得るステップとを含むことを特徴とする方法。
産業区分
  • 計算機応用
  • 電子応用機器
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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出願権利状態 権利存続中
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