TOP > 国内特許検索 > 強磁性構造材の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊測定方法

強磁性構造材の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊測定方法

国内特許コード P03A003117
整理番号 IU040004JP01
掲載日 2003年12月22日
出願番号 特願2001-181135
公開番号 特開2002-372519
登録番号 特許第3513601号
出願日 平成13年6月15日(2001.6.15)
公開日 平成14年12月26日(2002.12.26)
登録日 平成16年1月23日(2004.1.23)
発明者
  • 高橋 正氣
出願人
  • 岩手大学
発明の名称 強磁性構造材の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊測定方法
発明の概要 原子炉圧力容器等の強磁性構造体についての、亀裂が発生する前段階での脆性の変化に伴う経年劣化の程度を、小型の磁気ヨークと励磁電源とを用いて非破壊的に測定する方法を提供することにある。本発明の強磁性構造材の材料の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊測定方法は、強磁性材料の磁化率χbを保磁力Hc以上にて所定の磁界強度Hで測定し、磁化率χbと磁界強度Hとからb=χbにより脆化係数bを求めるものとし、あらかじめ、被測定強磁性構造体と同種材料の強磁性材料の、脆化係数bと脆性の変化に対応して変化する基準脆化因子(ビッカース硬さHv)との相関関係Hv=f(b)を得ておき、被測定強磁性構造材の、初期状態及び経年劣化後の脆化係数bの値に各々対応するビッカース硬さHvの値を相関関係Hv=f(b)から求め、それらのビッカース硬さHvの値を比較して被測定強磁性構造体の経年による脆性の変化を定量的に求めるものである。
従来技術、競合技術の概要 従来の一般的な非破壊検査方法は全て、亀裂の発生とその進展を調べることを目的としていた。その結果、現在の非破壊検査方法の発展の方向は、できる限り小さい亀裂の発生を発見することにあり、かかる従来の非破壊検査方法では、亀裂が発生する前の段階での非破壊検査は行うことができなかった。ところで、原子炉圧力容器の経年劣化は、一般的に、金属疲労と中性子線照射による銅原子の析出や転位ループ等とが複合して進行すると考えられている。ここで、強磁性構造材またはそれを用いた強磁性構造体の経年による材料強度劣化を非破壊的に測定する方法として従来、被測定対象の保磁力および飽和磁化領域における磁化率を測定する方法が知られている。さらに、亀裂が発生する前段階での金属疲労による経年劣化に関しては、本願発明者が先に特開2001-021538号公報にて開示しているように、従来、被測定対象の強磁性構造材または強磁性構造体の保磁力Hc及び帯磁率係数c(以下、強度係数cという。)を求めてその強度係数cにより強磁性構造材またはそれを用いた強磁性構造材の強度の経年劣化を測定する非破壊検査方法が知られている。そこで、本願発明者は、材料の強度の経年劣化の非破壊検査と併せて材料の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊検査を行うことできれば、原子炉圧力容器の安全性のより一層の向上につながると考え、材料の脆性の変化に伴う経年劣化についての非破壊検査に着目した。
産業上の利用分野 強磁性構造材またはそれを用いた強磁性構造体の、中性子線照射等による材料の劣化を非破壊的に測定して定量的に求める方法
特許請求の範囲 【請求項1】 強磁性構造材の経年による脆性の変化を定量的に求めることにより、強磁性構造材の経年劣化を非破壊で測定する方法において、強磁性材料の磁化率χbを保磁力Hc以上にて所定の磁界強度Hで測定し、前記磁化率χbと前記磁界強度Hとから次式b=χbにより脆化係数bを求めるものとし、あらかじめ、前記強磁性構造材と同種の前記強磁性材料についての前記脆化係数bとその強磁性構造材の脆性の変化に対応して変化する基準脆化因子との相関関係を得ておき、経年劣化測定対象の前記強磁性構造材について、初期状態および経年劣化後の前記脆化係数bの値を求めてそれらの値に各々対応する前記基準脆化因子の値を前記相関関係から求め、それらの基準脆化因子の値を比較して、前記経年劣化測定対象の強磁性構造材の経年による脆性の変化を定量的に求めることを特徴とする、強磁性構造材の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊測定方法。
【請求項2】 前記基準脆化因子が硬度であることを特徴とする、請求項1記載の強磁性構造材の脆性の変化に伴う経年劣化の非破壊測定方法。
産業区分
  • 試験、検査
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

※ 画像をクリックすると拡大します。

07963_01SUM.gif
出願権利状態 権利存続中
岩手大学地域連携推進センターでは、岩手大学における知的財産の創出・管理・活用のマネジメントをしております。上記の特許等にご興味がありましたら、下記問い合わせ先にご相談ください。


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close
close