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強磁性構造材の経年劣化の非破壊検査方法

国内特許コード P04A004536
整理番号 IU040003JP01
掲載日 2004年7月30日
出願番号 特願2001-013248
公開番号 特開2002-214200
登録番号 特許第3472826号
出願日 平成13年1月22日(2001.1.22)
公開日 平成14年7月31日(2002.7.31)
登録日 平成15年9月19日(2003.9.19)
発明者
  • 高橋 正氣
出願人
  • 岩手大学
発明の名称 強磁性構造材の経年劣化の非破壊検査方法
発明の概要 本発明の強磁性構造材の経年劣化の非破壊検査方法は、強磁性構造材を対象として測定した、磁界強度Hと磁化Mとで表されるヒステリシス磁化曲線に基づき、前記強磁性構造材の経年劣化を非破壊的に検査する方法において、前記ヒステリシス磁化曲線を複数に分割し、各分割点における前記曲線の勾配を、任意の分割点とその分割点から自然数k個離れた隣り合わない分割点との間を結ぶ直線の勾配によって求める、という作業を複数種類の自然数kの値について行い、各自然数kの値に関し、全ての前記分割点について求めた前記勾配から、磁界強度H,帯磁率χcおよび前記強磁性構造材の経年劣化の程度を表す帯磁率係数cを含む関係式である以下に示す(1)式c=χc・H3 ・・・(1)への前記勾配の収束の程度を調べて最も良く収束する前記自然数kの値を最適値として得るとともに、前記最適値における帯磁率χcから前記帯磁率係数cを求め、前記帯磁率係数cに基づいて前記強磁性構造材の経年劣化の程度を非破壊検査することを特徴とする。
従来技術、競合技術の概要 従来の一般的な非破壊検査方法は全て、亀裂の発生とその進展を調べることを目的としていた。その結果、現在の非破壊検査方法の発展の方向はできる限り小さい亀裂の発生を発見することにあり、かかる従来の非破壊検査方法では、亀裂が発生する前の段階での強磁性構造材の経年劣化を非破壊的に評価をすることはできなかった。ところで、強磁性構造材またはそれを用いた強磁性構造体の経年による材料強度劣化を非破壊的に測定する方法として従来、被測定対象の強磁性構造材料または強磁性構造体の保磁力および飽和磁化領域における帯磁率を測定する方法も知られている。
産業上の利用分野 強磁性構造材またはそれを用いた強磁性構造体の経年劣化による材料強度の劣化を非破壊的に検査する方法
特許請求の範囲 【請求項1】 強磁性構造材を対象として測定した、磁界強度Hと磁化Mとで表されるヒステリシス磁化曲線に基づき、前記強磁性構造材の経年劣化を非破壊的に検査する方法において、前記ヒステリシス磁化曲線を複数に分割し、各分割点における前記曲線の勾配を、任意の分割点とその分割点から自然数k個離れた隣り合わない分割点との間を結ぶ直線の勾配によって求める、という作業を複数種類の自然数kの値について行い、各自然数kの値に関し、全ての前記分割点について求めた前記勾配から、磁界強度H,帯磁率χcおよび前記強磁性構造材の経年劣化の程度を表す帯磁率係数cを含む関係式である次式c=χc・H3への前記勾配の収束の程度を調べて最も良く収束する前記自然数kの値を最適値として得るとともに、前記最適値における帯磁率χcから前記帯磁率係数cを求め、前記帯磁率係数cに基づいて前記強磁性構造材の経年劣化の程度を非破壊検査することを特徴とする、強磁性構造材の経年劣化の非破壊検査方法。
【請求項2】 前記n番目の分割点における磁界強度Hおよび磁化Mの値をそれぞれHn,Mnとするとともに、前記n番目の分割点から前記自然数k個離れた分割点における磁界強度Hおよび磁化Mの値をそれぞれHn+k,Mn+kとして、次式χnk=(Mn+k-Mn)/(Hn+k-Hn)から、前記任意の分割点とその分割点から自然数k個離れた隣り合わない分割点との間を結ぶ直線の勾配χnkを求めることを特徴とする、請求項1記載の強磁性構造材の経年劣化の非破壊検査方法。
【請求項3】 前記自然数kは、前記勾配χnkの、次式c=χc・H3を変形して得られる次式log(χc)=log(c)-3log(H)で示される関係式からの誤差が最小の時の値とすることを特徴とする、請求項2記載の強磁性構造材の経年劣化の非破壊検査方法。
産業区分
  • 試験、検査
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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出願権利状態 権利存続中
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