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高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法 コモンズ

国内特許コード P04A005602
整理番号 ShIP‐Z007
掲載日 2005年1月18日
出願番号 特願2000-310615
公開番号 特開2002-116164
登録番号 特許第3380901号
出願日 平成12年10月11日(2000.10.11)
公開日 平成14年4月19日(2002.4.19)
登録日 平成14年12月20日(2002.12.20)
発明者
  • 杉原 興浩
  • 岡本 尚道
  • 冨木 政宏
出願人
  • 学校法人静岡大学
発明の名称 高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法 コモンズ
従来技術、競合技術の概要 マルチメディアアプリケーションの増大に伴い、情報量の爆発的増加に対する情報処理能力の向上が急速に求められている。特に、従来の電気配線実装に代わる光インターコネクション技術の開発が急速に進んでおり、隣接するボード間、さらにはボード内のチップ間からチップ内というように、微小領域における光インターコネクションの開発が要求されている。これらの隣接場においては、曲げ損失及び曲げ中心数の増大や、ファイバ余長処理の必要性などにより、従来のガラスを中心とした無機材料からなる光ファイバ及び光導波路の使用が極度に制限されている。このため、ガラスなどの無機材料に代わる柔軟性の高い材料、及びそれを用いた柔軟性の高いデバイスの出現が望まれている。高分子材料は、上記要件を満足するとともに、スピンコート法やディップ法などによる薄膜形成が容易であり、上記光導波路を構成する材料として適している。さらに、高分子薄膜は、製膜プロセス中に高温プロセスを含まないことから、石英などの無機材料基板のみでなく、高分子基板上などにも容易に形成することができる。このため、光通信分野における光集積回路や光情報処理分野における光配線板などとして、上記高分子薄膜を具えた光導波路部品が大量及び安価に製造できることが期待されている。実際、アクゾノーベル社やNTT社において、熱光学スイッチなどとして使用可能な、1mS程度の応答速度を有する光導波路デバイスが開発されている。このような光導波路デバイスにおいては熱光学特性が極めて重要な物理特性であり、熱光学定数を簡便に測定する方法を開発することが急務となっている。
産業上の利用分野 本発明は、高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法に関する。
特許請求の範囲 【請求項1】 高分子材料の温度を変化させて異なる複数の温度に保持するとともに、それぞれの温度に保持された高分子材料の表面に光を入射させて、前記高分子材料の前記表面から複数のモードの反射光を得、これら複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、前記高分子材料の熱光学定数を測定することを特徴とする、高分子材料の熱光学定数測定方法。
【請求項2】 TEモード光及びTMモード光を前記高分子材料の前記表面に入射させ、前記TEモード光及び前記TMモード光のそれぞれに対する複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、前記高分子材料の前記熱光学定数を測定するとともに、前記熱光学定数の異方性を測定することを特徴とする、請求項1に記載の高分子材料の熱光学定数測定方法。
【請求項3】 所定の基板と、この基板上に形成された高分子薄膜とを具えた高分子デバイスにおいて、前記高分子薄膜の温度を変化させて異なる複数の温度に保持するとともに、それぞれの温度に保持された前記高分子薄膜の表面に光を入射させて、前記高分子薄膜の前記表面から複数のモードの反射光を得、これら複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、前記高分子薄膜の熱光学定数を測定することを特徴とする、高分子薄膜の熱光学定数測定方法。
【請求項4】 TEモード光及びTMモード光を前記高分子薄膜の前記表面に入射させ、前記TEモード光及び前記TMモード光のそれぞれに対する複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、前記高分子薄膜の前記熱光学定数を測定するとともに、前記熱光学定数の異方性を測定することを特徴とする、請求項3に記載の高分子薄膜の熱光学定数測定方法。
【請求項5】 前記高分子デバイスは高分子光導波路デバイスであり、前記高分子薄膜は高分子光導波路を構成することを特徴とする、請求項3又は4に記載の高分子薄膜の熱光学定数測定方法。
産業区分
  • 試験、検査
  • 高分子化合物
国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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出願権利状態 権利存続中
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