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※未公開特許出願は対象外です。


該当件数 34件

No. 出願番号
特許番号
発明の名称
掲載日
更新日
データ提供機関
1 特願2016-040357 特開2017-156245 分光測定装置 NEW 2017/10/04 2017/10/04 香川大学
2 特願2015-500127 WO2014125775 赤外光スペクトル計測装置及び方法 2017/06/26 2017/06/26 自然科学研究機構(NINS)
3 特願2009-002068 特許第5484737号 軟X線分光装置 2017/06/14 2017/06/14 理化学研究所
4 特願2015-083763 特開2016-205839 画像解析装置および検査システム 新技術説明会 外国出願あり 2016/12/28 2017/03/24 広島県立総合技術研究所
5 特願2014-538203 特許第6202499号 光位相測定方法、光位相測定装置および光通信装置 UPDATE 2016/11/04 2017/10/04 北海道大学
6 特願2014-539680 特許第5765693号 分光特性測定装置 2016/11/02 2016/11/02 香川大学
7 特願2014-539798 特許第5881051号 分光特性測定装置 2016/11/02 2016/11/02 香川大学
8 特願2014-512361 特許第6143196号 光パルスの強度と位相を測定する装置及び方法 2016/01/20 2017/06/14 自然科学研究機構(NINS)
9 特願2013-106952 特許第6200690号 肉色の等級決定方法 UPDATE 2016/01/20 2017/09/26 帯広畜産大学
10 特願2013-545840 特許第6040162号 偏波解析装置、偏波解析方法、物性測定装置、及び物性測定方法 2015/11/19 2016/12/15 慶應義塾大学
11 特願2013-002493 特許第6025101号 照明の分光分布特性および色材の分光反射特性の制御に基づく色彩変化による、照明光の効率的利用方法、並びに当該方法を利用した照明システム コモンズ 2015/07/29 2016/11/25 同志社大学
12 特願2015-015735 特開2016-142523 分光特性測定装置及びその調整方法 2015/02/17 2016/11/30 香川大学
13 特願2015-015733 特開2016-142522 分光特性測定装置 2015/02/17 2016/11/30 香川大学
14 特願2012-034442 特許第6025013号 波形再構成装置、波形再構成システム及び波形再構成方法 2013/09/27 2016/11/25 大阪大学
15 特願2005-251718 特許第4719879号 和周波発生分光装置及び和周波発生分光法 2012/11/01 2012/12/04 広島大学
16 特願2007-084832 特許第4654446号 アバランシェフォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法 コモンズ 2011/11/15 2017/05/08 長野工業高等専門学校
17 特願2009-069347 特許第5445906号 波長スペクトル検出方法 コモンズ 2011/11/15 2017/02/03 長野工業高等専門学校
18 特願2011-099445 特許第5807859号 スペクトル計測装置およびスペクトル計測方法 コモンズ 2011/09/13 2015/11/24 名古屋大学
19 特願2007-523340 特許第4714882号 ブラッググレーティングの構造の同定方法および装置ならびにその作成方法 外国出願あり 2011/09/13 2011/09/13 山梨大学
20 特願2011-043171 特許第5648961号 分光特性測定装置及びその校正方法 2011/09/02 2015/08/14 香川大学
21 特願2006-352905 特許第4961555号 植物の対象部分の位置特定方法とその方法による対象部分の位置特定装置及びその装置を用いた作業用ロボット コモンズ 2011/08/18 2012/06/29 宇都宮大学
22 特願2004-232541 特許第4403272号 分光計測方法及び分光計測装置 コモンズ 2011/08/18 2012/04/16 岡山大学
23 特願2005-289531 特許第4106064号 光学系付属品、それを用いた分光光度計 2011/06/22 2011/06/22 科学技術振興機構(JST)
24 特願2003-143476 特許第3940376号 ゲル状試料用分光測定装置 2011/06/17 2011/06/17 科学技術振興機構(JST)
25 特願2003-411786 特許第4174419号 偏光解析装置 実績あり 2011/06/17 2015/08/28 科学技術振興機構(JST)
26 特願2008-076557 特許第5170748号 離散スペクトルのスペクトル位相計測装置、及び、離散スペクトルのスペクトル位相計測方法 コモンズ 新技術説明会 2011/04/26 2013/04/02 電気通信大学
27 特願2008-222980 特許第5107183号 テラヘルツ光検出装置とその検出方法 2010/04/16 2017/02/22 理化学研究所
28 特願2004-372061 特許第4727981号 回折格子装置 2008/08/22 2011/08/03 理化学研究所
29 特願2005-059503 特許第4701385号 光学特性測定装置、光学特性測定方法、並びに、それに用いるプログラムおよび記録媒体 2006/09/22 2012/04/18 北海道大学
30 特願2002-081393 特許第3875127号 広帯域スーパーコンティニューム極短光パルスを用いたシングルショット過渡吸収計測方法およびシングルショット過渡吸収計測システム 2005/05/09 2015/08/28 科学技術振興機構(JST)
31 特願平11-250202 特許第3278688号 非分光光をファインダ系に用いた音響光学フィルタ型分光カメラ 2005/03/18 2015/08/26 JAXA
32 特願2002-012232 特許第3613578号 液晶光学計測装置及びそれを用いた光学計測測定システム 2005/03/18 2015/08/26 JAXA
33 特願2000-037642 特許第3297737号 分光画像撮像装置 2003/05/27 2012/04/05 埼玉大学
34 特願平10-281057 特許第3141106号 球面回折格子による収束光入射型分光装置 2002/09/30 2013/04/18 科学技術振興機構(JST)

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