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注目の特許

BISTスキャンテストの低電力化技術

No. 出願番号 公報番号 出願国 発明の名称 掲載日 更新日
1 特願2012-537651 特許第5845187号 日本 故障検出システム、取出装置、故障検出方法、プログラム及び記録媒体 2016/03/10 2016/03/10
2 特願2013-553292 WO2013105564 日本 テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体 2015/11/19 2015/11/19
3 特願2014-516759 WO2013175998 日本 故障検出システム、生成回路及びプログラム 2016/02/10 2016/02/10
4 2013JP063393 WO 2013/175998 世界知的所有権機関(WIPO) FAILURE DETECTION SYSTEM, GENERATING CIRCUIT AND PROGRAM 2013/12/16 2013/12/16
5 2011JP072211 WO 2012/046602 世界知的所有権機関(WIPO) FAULT DETECTION SYSTEM, EXTRACTION DEVICE, FAULT DETECTION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM 2012/05/16 2012/05/31
6 2013JP050150 WO 2013/105564 世界知的所有権機関(WIPO) TEST PATTERN MANUFACTURING DEVICE, FAULT DETECTION SYSTEM, TEST PATTERN MANUFACTURING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM 2013/07/31 2013/07/31

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