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雰囲気制御電気化学STMの製作とトンネリングスペクトロスコピーの測定

研究報告コード R990003944
掲載日 2001年2月6日
研究者
  • 長谷 安規
  • 山田 太郎
  • 作原 寿彦
  • 林 徹
研究者所属機関
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
研究機関
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
報告名称 雰囲気制御電気化学STMの製作とトンネリングスペクトロスコピーの測定
報告概要 サンプルや溶液の汚染を防ぐ目的で,雰囲気を不活性ガスに置換することが可能な,雰囲気制御電気化学走査型トンネル顕微鏡(STM)を作製した。この装置を使用し,トンネル電流Iとチップ-サンプル距離sからサンプルのトンネル障壁を求めるトンネリングスペクトロスコピーを,溶液中の原子オーダーで平坦な単結晶の清浄表面に応用し,Au(111)in 0.1M-HClO4,Iodine/Au(111)in 0.1M- HClO4,Pt(111)in 0.05M-H2SO4のI-sカーブを測定してトンネル障壁を求めた。この結果よりよう素吸着によって単結晶表面のトンネル障壁が小さくなること,及び酸化領域ではヨウ素吸着時ほどの変化は見られないということが確認できた。さらに,超高真空中でも同じサンプルにて測定し,ヨウ素吸着によって,単結晶表面のトンネル障壁が小さくなることを確認した。溶液中でのトンネリングスペクトロスコピーを,固液界面での吸着種の状態の識別手法とするには,今後さらにチップとサンプルの間に存在している溶液中のイオン,チップ表面での吸着や酸化の影響を調べていく必要がある。
画像

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研究分野
  • 顕微鏡法
  • 界面の電気的性質一般
  • 電気化学反応
  • 固-液界面
関連発表論文 (1)T. Yamada, N. Batina and K. Itaya: J. phys. Chem. 335 (1995) 204
(2)N. Batina, T. Yamada and K. Itaya: Langmuir 11 (1995) 4568
研究制度
  • 創造科学技術推進事業、板谷固液界面プロジェクト/科学技術振興事業団
研究報告資料
  • 長谷 安規,山田 太郎,作原 寿彦,林 徹. 雰囲気制御電気化学STMの製作とトンネリングスペクトロスコピーの測定. 創造科学技術推進事業 板谷固液界面プロジェクト 最終シンポジウム要旨集(研究期間:1992-1997),1997. p.40 - 43.

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