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量子化ナノワイヤ STMとUHV-TEMの同時観察 金ナノワイヤーの量子化コンダクタンス

研究報告コード R990004045
掲載日 2001年2月6日
研究者
  • 大西 秀朗
研究者所属機関
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
研究機関
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
報告名称 量子化ナノワイヤ STMとUHV-TEMの同時観察 金ナノワイヤーの量子化コンダクタンス
報告概要 UHV-TEMの試料ステージにSTMを取付け,STM動作中の探針をTEMで観察し,STM探針と試料のプロファイル像を同時に観察することによって,探針-試料間のGap距離とSTM条件との関係を明らかにした。STMの探針を試料に接触させ,引き上げるとき接触部分のコンダクタンスが量子化されるときの,接触部分の形成と構造をTEMで観察した。探針を接触させ,引き上げるにつれて,接触部分は細くなり,コンダクタンスは減少していった。コンダクタンスの変化をTEM像にスーパーインポーズしてビデオテープに録画し,構造とコンダクタンスとを一対一に対応させた。接点の形成と構造は両電極の結晶方位によって異なり,コンダクタンスの変化も異なる。(111)方位での接触の場合は均一の太さのワイヤーが接点に形成され,ワイヤーが細くなるに従ってコンダクタンスも階段状に変化した。
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研究分野
  • 電子顕微鏡,イオン顕微鏡
  • 顕微鏡法
  • 固相転移
  • 半導体結晶の電子構造
  • ポーラロン,電子-フォノン相互作用
関連発表論文 (1)Ohnishi, H.; Kondo, Y.; Takayanagi, K.; “In-Situ Operation of a Scanning Tunneling Microscope in a UHV Transmission Electron Microscope”, The Electron, Kirkland, A.; Brown, P.D., Cambridge, The University Press, 1998, 501-506.
(2)Ohnishi, H.; Kondo, Y.; Takayanagi, K. Quantized conductance through individual rows of suspended gold atoms. Nature, 395, 1998, 780-783.
(3)Ohnishi, H.; Kondo, Y.; Takayanagi, K. UHV electron microscope and simultaneous STM observation of gold stepped surfaces. Surf. Sci., 415, 1998, L1061-L1064.
研究制度
  • 創造科学技術推進事業、高柳粒子表面プロジェクト/科学技術振興事業団
研究報告資料
  • 大西 秀朗. 量子化ナノワイヤ STMとUHV-TEMの同時観察 金ナノワイヤーの量子化コンダクタンス. 創造科学技術推進事業 高柳粒子表面プロジェクト シンポジウム概要集(研究期間:1994-1999),1999. p.57 - 58.

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