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誘起構造を調べる 1 誘起構造解析法の開発 1.3 XAFS法による誘起構造の決定

研究報告コード R990004074
掲載日 2001年2月6日
研究者
  • 清水川 豊
研究者所属機関
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
研究機関
  • 科学技術振興事業団 創造科学技術推進事業
報告名称 誘起構造を調べる 1 誘起構造解析法の開発 1.3 XAFS法による誘起構造の決定
報告概要 X線のエネルギーを連続的に変化させて試料による吸収を測定していくと,そのエネルギーが内殻電子の結合エネルギー(吸収端)に対応した位置を越えたところで急激に立上り,続いて微細構造が現れる。X線スペクトルの吸収端の立ち上り付近(約50eVまでの領域)をXANES(X-ray Absorption Near Edge Structure)と呼ぶ。XANES部分からはX線を吸収した原子の電子構造に関する情報を得ることができる。XAFS(X-ray Absorption Fine Structure)法は,X線吸収スペクトルの解析にあり,物質中に含まれる原子の情報を選択的に得ることができる。XAFS法の原理,実験方法,解析方法について述べた。以下のような解析例を挙げた。
1)ほう酸塩ガラスにドープされたSm2+,Sm3+イオンの局所構造,
2)超高速非線形応答を示すBi2O3-B2O3-SiO2系ガラスの構造,
3)ポーリングしたZnO-TeO2ガラスにおける二次高調波強度とガラス構造の関係。
画像

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研究分野
  • 非線形光学
  • 構造決定法
  • 非晶質の電子構造一般
  • X線スペクトル一般
  • ガラスの性質・分析・試験
研究制度
  • 創造科学技術推進事業、平尾誘起構造プロジェクト/科学技術振興事業団
研究報告資料
  • 清水川 豊. 誘起構造を調べる 1 誘起構造解析法の開発 1.3 XAFS法による誘起構造の決定. 創造科学技術推進事業 平尾誘起構造プロジェクトHirao Active Glass Project NEWS(研究期間:1994-1999) '99.8 Final. p.109 - 117.

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