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該当件数 2213件

No. 研究報告コード
研究報告名称
掲載日
更新日
2201 R990004376 固体表面電子状態シミュレーション用高速プログラムの開発 3 積分方程式法を用いた新しい計算手法の開発 2001/02/06 2000/10/13
2202 R990004377 固体表面反応シミュレーションとその実証 1 超純水電気化学加工プロセスの第一原理分子動力学シミュレーションとその実証 2001/02/06 2000/10/13
2203 R990004378 固体表面反応シミュレーションとその実証 2 EEM(Elastic Emission Machining)の加工現象のシミュレーション 2001/02/06 2000/10/13
2204 R990004379 固体表面反応シミュレーションとその実証 3 固体表面の反応素過程シミュレーションによるプラズマCVM(Chemical Vaporization Machining)の加工メカニズムの解明 2001/02/06 2000/10/13
2205 R990004380 固体表面反応シミュレーションとその実証 4 Si(001)表面上へのアンモニア分子解離吸着過程の第一原理分子動力学シミュレーション 2001/02/06 2000/10/13
2206 R990004381 固体表面反応シミュレーションとその実証 5 ハロゲンおよび金属が吸着したSi(001)2×1表面の電子状態シミュレーションとSTM/STS(Scanning Tunneling Microscopy/Scanning Tunneling Spectros 2001/02/06 2000/10/13
2207 R990004382 固体表面反応シミュレーションとその実証 6 STM‐AES・XMAにおける特性X線エネルギーおよびオージェ電子エネルギーの解析 2001/02/06 2000/10/13
2208 R990004383 超精密加工・成膜システムの開発 1 プラズマCVM(Chemical Vaporization Machining) 2001/02/06 2000/10/13
2209 R990004384 超精密加工・成膜システムの開発 2 EEM(Elastic Emission Machining)による超精密加工法の開発 2001/02/06 2000/10/13
2210 R990004385 超精密加工・成膜システムの開発 3 大気圧プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)による高速成膜 2001/02/06 2000/10/13
2211 R990004386 表面計測評価システムの開発 1 STM‐AES・XMA(Scanning Tunneling Microscopy‐Auger Electron Spectroscopy・X‐ray Micro Analysis)の開発 2001/02/06 2000/10/13
2212 R990004387 表面計測評価システムの開発 2 レーザー光散乱法によるナノメータオーダーの微粒子計測および表面評価システムの開発 2001/02/06 2000/10/13
2213 R990004388 表面計測評価システムの開発 3 微小突起をプローブとした走査型近接場光学顕微鏡の開発 2001/02/06 2000/10/13

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