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立体原子顕微鏡、原子配列の立体観察方法、及び原子配列の立体写真測定方法

シーズコード S100002794
掲載日 2010年11月5日
研究者
  • 大門 寛
技術名称 立体原子顕微鏡、原子配列の立体観察方法、及び原子配列の立体写真測定方法
技術概要 立体原子顕微鏡1は、円偏光照射手段2、及び二次元光電子検出手段3を備え、さらに、撮影手段4、画像処理手段5、表示手段6、及び制御手段7を備える。円偏光照射手段2からの回転方向の異なる2つの円偏光によって得られる2つの光電子パターンを二次元光電子検出手段3で検出し、この2つの光電子パターンを右目及び左目で観察する各像に対応させることによって、原子配列を立体的に観察する。立体原子顕微鏡1が備える撮影手段4、画像処理手段5、表示手段6、及び制御手段7は、二次元光電子検出手段3で検出した2つの光電子パターンを画像あるいは写真として出力する構成である。撮影手段4は、検出した2つの光電子パターンを写真像とする手段であり、観察者はこの2つの光電子パターンの写真像を左目及び右目でそれぞれ見ることによって、原子配列を立体的に観察することができる。画像処理手段5は、二次元光電子検出手段3等による像の歪みを補正する画像処理を含むことができる。制御手段7は、円偏光照射手段2における円偏光の回転方向の切替えを制御したり、回転方向の切替えに応じて画像処理手段5を制御する。
画像

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研究分野
  • 電子回折法
  • 電子顕微鏡,イオン顕微鏡
  • 光電子放出
展開可能なシーズ 原子配列の立体構造を立体的に直接目で観察することができる立体原子顕微鏡、立体観察方法、及び立体観察に好適な立体写真を測定する測定方法を提供する。
光電子回折における円2色性を用いることによって原子配列を異なる2方向から見た2つの像を求めるので、原子配列の立体構造を立体的に直接目で観察することができる。
用途利用分野 顕微鏡、原子配列立体観察
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学, . 大門 寛, . 立体原子顕微鏡、原子配列の立体観察方法、及び原子配列の立体写真測定方法. 特開2002-139466. 2002-05-17
  • G01N  23/227    

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