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温度計測装置

シーズコード S100002919
掲載日 2010年11月5日
研究者
  • 冨田 栄二
  • 河原 伸幸
  • 土田 直樹
技術名称 温度計測装置
技術概要 温度計測装置200には、He-Neレーザ201、ヘテロダイン干渉用光学系202、光電変換部203、位相計204、データ演算部205および表示部206が設けられ、温度計測装置200は光ファイバ212を介してセンサ部211に接続される。そして、He-Neレーザ201で発生されたレーザ光はヘテロダイン干渉用光学系202に入射され、ヘテロダイン干渉用光学系202でビート信号を生成するための参照光と試験光とが生成される。ここで、ヘテロダイン干渉用光学系202で生成された試験光は、光ファイバ212を介してセンサ部211に入射し、センサ部211に入射した試験光は、温度計測領域の温度変化に基づいて位相が変化する。センサ部211に入射した試験光は、センサ部211にて反射され、光ファイバ212を介してヘテロダイン干渉用光学系202に戻され、ビート信号に変換された後、光電変換部203に入力される。そして、光電変換部203でビート光が電気信号に変換された後、位相計204にて、参照信号と試験信号とのビート周波数差から、温度計測領域を通過したレーザ光の位相変化が算出される。
画像

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研究分野
  • 温度測定,温度計
  • 干渉測定と干渉計
展開可能なシーズ ヘテロダイン干渉法を用いた温度計測を効率化することが可能な温度計測装置、信号処理装置および信号処理プログラムを提供する。
温度計測領域でのビート周波数の位相変化から温度を求めるための手間を軽減することが可能となり、ヘテロダイン干渉法を用いた温度計測方法を内燃機関などに適用した場合においても、燃焼室内の急激な温度変化をリアルタイムで知ることが可能となる。
用途利用分野 温度計測装置、信号処理装置、ヘテロダイン干渉法
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人 岡山大学, . 冨田 栄二, 河原 伸幸, 土田 直樹, . 温度計測装置. 特開2004-125741. 2004-04-22
  • G01K   5/28     
  • G01N  21/45     

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