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距離測定装置および距離測定方法

シーズコード S100003017
掲載日 2010年11月5日
研究者
  • 西澤 典彦
  • 後藤 俊夫
技術名称 距離測定装置および距離測定方法
技術概要 超短パルスファイバレーザ22からのパルス光を光分岐器24により参照光Aと信号光とに分岐する。信号光についてはスキャニングミラー装置28により対象物10に照射してその反光である散乱光を受光する。参照光Aについては光路長調整部30により光路長を変更する。そして、光路長が変更された参照光Aと散乱光Bとの干渉の程度を干渉信号として差動検出器40により検出する。干渉信号が最大となる光路長に対応する光路長調整部30の調整値からスキャニングミラー装置28から対象物10までの距離を演算することにより、対象物10のパルス光が照射された位置のまでの距離を測定する。短い間隔のパルス光を分岐した信号光を対象物に照射すると共に対象物から信号光の照射により反射される散乱光を受光する。一方、短い間隔のパルス光を分岐した参照光の伝搬時間を調整する。そして、この伝搬時間を調整した参照光と受光した散乱光との重ね合わせに基づいて干渉信号を生成し、調整した伝搬時間と生成した干渉信号とに基づいて信号光の照射地点から対象物までの距離を演算する。パルス光の直進性と高速性とを用いて照射地点から対象物までの距離を演算するから、対象物までの距離を高い精度で迅速に測定することができる。
画像

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研究分野
  • 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
  • 光学的測定とその装置一般
  • レーザ一般
展開可能なシーズ 対象物までの距離を迅速に高い精度で測定する。
伝搬時間を調整した参照光と受光した散乱光との重ね合わせに基づいて干渉信号を生成し、調整した伝搬時間と生成した干渉信号とに基づいて信号光の照射地点から対象物までの距離を演算する。パルス光の直進性と高速性とを用いて照射地点から対象物までの距離を演算するから、対象物までの距離を高い精度で迅速に測定することができる。距離測定装置の製造産業に利用可能である。
用途利用分野 画像処理対象物距離測定
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人名古屋大学, . 西澤 典彦, 後藤 俊夫, . 距離測定装置および距離測定方法. 特開2006-126168. 2006-05-18
  • G01S  17/10     

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