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散乱光検出方法及び走査型プローブ顕微鏡

シーズコード S100003182
掲載日 2010年11月5日
研究者
  • 岩田 太
技術名称 散乱光検出方法及び走査型プローブ顕微鏡
技術概要 レーザーをプローブ先端21へ直線偏光のP偏光成分を変調して照射する。プローブ先端21にP偏光が照射されたタイミングでプローブ先端21と試料との間の散乱光を検出する。 円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端21へ直線偏光のP偏光成分を変調して照射する。プローブ先端21にP偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する。 レーザー発信器とその光路中の円偏光変換手段と回転する偏光子とを有して成る。 円偏光変換手段は、1/4波長板である。偏光子は、偏光板である。
画像

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研究分野
  • 光学顕微鏡,望遠鏡
展開可能なシーズ レーザーの偏光の変調、並びに、走査型プローブ顕微鏡を提供する。特に、近接場光によるプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。
レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のP偏光成分を変調して照射することができる。プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、SNOM信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡が得られる。
用途利用分野 光学顕微鏡、走査トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、散乱型近接場光学顕微鏡
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人静岡大学, . 岩田 太, . 散乱光検出方法及び走査型プローブ顕微鏡. 特開2006-098386. 2006-04-13
  • G01Q  60/18     

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