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粒子計測装置および方法

シーズコード S110005688
掲載日 2011年1月14日
研究者
  • 上 杉 知 弘
  • 川 橋 正 昭
  • 平 原 裕 行
  • 座 間 淑 夫
技術名称 粒子計測装置および方法
技術概要 インライン光学系を用いるインラインホログラフィ撮影システムである。レーザビームLを出射する。レーザビームLを、第1ビームL1(L1s),第2ビームL2および第3ビームL3に分岐する。第1ビームL1sを計測対象領域に照射する。計測対象領域を照射する第1ビームL1sに対して、第1ビームが当たった粒子の0次反射光と1次屈折光の光強度が同等となる散乱角θとなる受光角で計測対象領域を撮影す。第2ビームL2を、第1参照光として第1電子カメラ20に投射する。第1電子カメラ20の光軸に対してステレオ角φをなし、かつ第3ビームL3が第2参照光として投射される第2電子カメラ21を備える。第2光学手段(M3,M4)は、第2ビーム(L2)を計測対象領域を通して第1電子カメラ(20)に投射し;第3ビーム(L3)も計測対象領域を通して第2電子カメラ(21)に投射される。
画像

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研究分野
  • 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
  • 図形・画像処理一般
展開可能なシーズ 粒径および3次元位置を計測し得る粒子計測装置を提供する。3次元位置演算に用いるパラメータの校正(カメラ校正)のための作業が簡易な粒子計測装置を提供する。
第1ビームが当たった粒子の0次反射光と1次屈折光の光強度が同等となる散乱角θとなる受光角で計測対象領域を撮影するので、第1電子カメラの撮影画面上に現れる1粒子の輝点対(2像)の輝度が同等であり、輝点対の識別抽出の精度が向上する。第1電子カメラの結像面を、粒子像内に干渉縞を生ずる焦点外れ位置とすることにより、第1電子カメラの撮影画面上の粒子像内に現れる干渉縞が明瞭になり、粒径計測の精度を高くすることができる。インライン光学系なのでその複雑さがない。第3軸方向の粒子の位置は、幾何学的な関係から得られるため、高精度である。
用途利用分野 液滴移動量計測、粒子3次元位置計測装置、デジタルホログラフィ
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人埼玉大学, . 上 杉 知 弘, 川 橋 正 昭, 平 原 裕 行, 座 間 淑 夫, . 粒子計測装置および方法. 特開2007-298327. 2007-11-15
  • G01B  11/08     
  • G01B  11/00     
  • G01P   3/36     

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