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計測システム

シーズコード S110006026
掲載日 2011年11月2日
研究者
  • 佐野 安一
  • 窪田 純
技術名称 計測システム
技術概要 分布型温度計測システムでは、広帯域光源1から出射した光はSMF、光方向性結合器2(光方向性結合器はサーキュレータでもよい)を経てSMFに入射する。このSMFにはN個のセンサ(Nは1以上の整数)がSMFを介して直列に接続される。1個あるいは複数のセンサからの反射光は逆の経路をたどって光方向性結合器2経由波長検波器3に導かれ該検波器においてこれらセンサからの反射スペクトルを計測することによりセンサが検出すべき温度を測定する。各センサは第一のリング導波路RW1とブラッググレーティングWBGを内蔵した第二のリング導波路RW2を第一の光方向性結合器DC1で結合しかつ第一のリング導波路RW1を第二の光方向性結合器DC2を介してSMFからなる光信号伝送ラインに結合させることにより第一のリング共振器を構成しリング共振器の入射ポートIPからドロップポートDPへの透過帯域フィルタ特性を第一のリング導波路RW1のリング長を例えばミリメータ程度にすることにより狭帯域透過櫛型フィルタ特性とする。
画像

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研究分野
  • 計測機器一般
展開可能なシーズ 光ファイバブラッググレーティングを用いた光スペクトルパタンマッチング法による分布型センサシステムを提供する。
センサの測定範囲はシステム設計の段階でこの櫛型反射スペクトルのFSRより狭い波長範囲とするとセンサの温度とセンサからの櫛型反射スペクトルは一対一で対応する。この関係をあらかじめデータとして記憶しておくことによりAWGの任意のチャンネルの出力の最大値を与える電圧からそのチャンネルに対応するセンサの温度を測定することができる。
用途利用分野 分布型センサシステム、分布型温度計測システム
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 独立行政法人国立高等専門学校機構, . 佐野 安一, 窪田 純, . 計測システム. 特開2008-232878. 2008-10-02
  • G01K  11/12     
  • G01D   5/353    

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