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細胞物性測定装置

シーズコード S110006490
掲載日 2011年11月22日
研究者
  • 尾股 定夫
  • 村山 嘉延
技術名称 細胞物性測定装置
技術概要 この装置10は、測定対象物8である生体細胞に超音波を入射する振動子26と、測定対象物からの反射波を検出する振動検出センサ28とを有する探触子20と、測定対象物に対し、探触子をXY平面内の任意の位置に相対的に移動させる平面内移動機構30と、測定対象物に対し、探触子をXY平面に対する高さ方向に相対的に移動させる高さ移動機構32と、探触子に増幅器とともに直列に接続され、振動子への入力波形と振動検出センサからの出力波形に位相差が生じるときは、周波数を変化させてその位相差をゼロに補償する位相シフト回路52と、位相差をゼロに補償する周波数変化量が予め任意に設定された周波数変化閾値を超えたときに、探触子が測定対象物に接触したとして接触信号を出力する接触検出部56と、接触信号が出力されたときの高さ移動機構の高さ方向の位置を、探触子が測定対象物に接触した接触高さとして出力する接触高さ出力部と、測定対象物に対する探触子のXY平面内の移動位置と、その移動位置における接触高さとに基づいて、測定対象物である生体細胞の3次元表面形状を表示する表面形状表示手段80とを備える。
画像

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研究分野
  • 応用
  • 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
展開可能なシーズ 測定対象物である生体細胞について、位相シフト法を用いることで、生体細胞の表面形状を測定可能にし、又、表面形状の測定と共に細胞の硬さを測定可能にする細胞物性測定装置を提供する。
この装置は、探触子を用いて測定対象物に対し2次元的に走査することができる。そして、位相シフト回路を用いて、探触子の高さを移動させて、位相差をゼロに補償する周波数変化量が予め任意に設定された周波数変化閾値を超えたときに、探触子が測定対象物に接触したとすることにより、接触高さの2次元分布を得ることができる。これにより、測定対象物である生体細胞の3次元的な表面形状を測定できる。又、位相差をゼロに補償したときの周波数変化量と硬さとの関係を予め求めておき、探触子の先端を予め任意に定めた測定高さにおいて測定対象物に接触させ、位相差をゼロに補償する周波数変化量から測定対象物の硬さを出力でき、内部を含めた硬さを測定できる。プローブ部の先端部は、曲率半径が5μm以上20μm以下であるので、測定対象物である生体細胞の微小な部分の表面形状、硬さを測定することができる。
用途利用分野 細胞物性測定装置、細胞3次元測定装置、細胞硬度測定装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人日本大学, . 尾股 定夫, 村山 嘉延, . 細胞物性測定装置. . 2010-03-25
  • G01N   3/40     
  • G01B  21/20     

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