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フィレット面認識方法、フィレット面認識プログラム及び計測情報処理装置

シーズコード S110007198
掲載日 2011年12月21日
研究者
  • 今野 晃市
  • 金野 哲士
  • 高橋 哲也
技術名称 フィレット面認識方法、フィレット面認識プログラム及び計測情報処理装置
技術概要 フィレット面認識方法は、機械部品を、3次元計測装置などで計測して得られた計測データである計測点群10から上記3次元物体のフィレット面を自動的に認識するためのものである。フィレット面とは、二つの平面間の接続を滑らかにするために挿入される曲面である。機械部品の形状には、平面形状とフィレット形状とが混在している。3次元物体としての機械部品の3次元形状をレンジセンサなどの3次元計測装置で計測した後、取得した計測データとしての計測点群10を、コンピュータを利用して自動的に処理する工程を示している。また、フィレット面認識方法では、フィレット面が円柱(柱状体)の周表面を表す形状であると仮定する。フィレット面認識方法は、フィレット面候補点群抽出工程S10と、シルエット候補線取得工程S20と、点列探索工程S30と、フィレット面認識工程S40とを含んでおり、この順に実施する。フィレット面候補点群抽出工程S10では、計測点群10のうちで、フィレット面を構成すると推定される複数の計測点をフィレット面候補点群として抽出する。
画像

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研究分野
  • 情報処理
展開可能なシーズ 3次元物体を計測して得られた計測データである計測点群から、フィレット面を自動的に認識可能なフィレット面認識方法、フィレット面認識プログラム及び計測情報処理装置を提供する。
二次曲線で近似した近似曲線に対して最適化を図ることでより正確に二次曲線を算出することができる。また、最適化を上記第1最大回数まで実施して誤差許容用範囲内の二次曲線が得られない場合に、近似対象範囲を狭めて更に近似曲線を算出することで、計測点群に含まれる計測誤差の影響を低減して二次曲線を算出することができ、結果として、より正確にフィレット面を認識することが可能である。
用途利用分野 フィレット面認識プログラム、計測情報処理装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人岩手大学, . 今野 晃市, 金野 哲士, 高橋 哲也, . フィレット面認識方法、フィレット面認識プログラム及び計測情報処理装置. 特開2009-301361. 2009-12-24
  • G01B  21/00     

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