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分子計測装置および分子計測方法

シーズコード S120007721
掲載日 2012年1月5日
研究者
  • 岡嶋 孝治
  • 徳本 洋志
技術名称 分子計測装置および分子計測方法
技術概要 分子計測装置は、基板100上に存在する分子900の一端を引き上げる引き上げ手段と、分子が基板100に接している部分と引き上げにより分子が基板100から離されている部分との境界である剥がれ点(模式図910の極小点)と、引き上げ手段の位置とを、基板100に対して垂直線上になるように制御する制御手段と、を備え、制御手段は、分子の一端を引き上げた状態の引き上げ手段と基板100との距離を一定に維持しながら、引き上げ手段の位置を制御する。また、制御手段は、引き上げ手段のたわみ量が小さくなる位置を検知し、検知した位置へ引き上げ手段を移動させ、たわみ量が小さくなる位置を検知することを繰り返し、たわみ量が最小となる位置に引き上げ手段を移動させる。また、引き上げ手段は、カンチレバー200、光ピンセット(光放射圧)、ガラスニードル、のいずれか一つである。また、分子計測方法は、引き上げ手段を用いて、基板上に存在する分子の一端を引き上げ、分子が基板に接している部分と引き上げにより分子が基板から離されている部分との境界である剥がれ点と、引き上げ手段の位置とを、基板に対して垂直線上になるように制御する。
画像

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研究分野
  • 分子の電気的・磁気的性質
展開可能なシーズ 従来の一分子計測法は、正確な一軸方向の延伸技術とはいえない。また、原子間力顕微鏡装置に不可避に存在する位置ドリフトが発生するため、一個の分子を継続的に延伸するということは困難である。さらに、分子がどのように剥がれるか(分子が基板から剥がれるポイント)や、基板上の分子の形状、等を計測することができない。そこで、分子の延伸方向を一軸方向に制御して分子を計測する分子計測装置及び分子計測方法を提供する。
分子の延伸方向を一軸方向に制御して分子を計測することができる。特に、基板上に存在する分子を伸縮させる計測において、相互に垂直に交わる三軸微動機構を用いて、基板から剥がれた分子の延伸方向を制御することができる。この分子計測装置並びに方法は、精度が高いことより、高分子材料のナノ計測装置の精密計測法、分子を操作する場合の基礎技術、装置のナノレベルのドリフト計測、長鎖高分子を一分子レベルで長時間測定するために必要な技術などへ用いるのに好適である。
用途利用分野 分子計測装置、原子間力顕微鏡装置、ナノ計測装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人北海道大学, . 岡嶋 孝治, 徳本 洋志, . 分子計測装置および分子計測方法. . 2008-05-01
  • G01Q  60/24     
  • G01Q  10/02     
  • G01Q  80/00     

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