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ひずみ計測方法、ひずみ計測装置およびプログラム

シーズコード S120007950
掲載日 2012年1月16日
研究者
  • 伊藤 幸広
  • 井上 賢優
  • 松田 浩
  • 内野 正和
技術名称 ひずみ計測方法、ひずみ計測装置およびプログラム
技術概要 この方法は、測定対象5に荷重を加える前に、所定領域6内の表面高さ分布を計測し、所定領域内の点Aを包含する微小領域aの表面高さ分布、及び所定領域内の別の点Bを包含する微小領域bの表面高さ分布をそれぞれ求める。その後、測定対象に荷重を加えた後の所定領域6’内の表面高さ分布を計測し、所定領域6’内で表面高さ分布が微小領域a、bに最も近似する微小領域a’、b’を見つければ、所定領域内の点A、Bが、微小領域aにおける点A及び微小領域bにおける点Bにそれぞれ対応する、微小領域a’内の点A’及び微小領域b’内の点B’に移動したと推定する。そして、荷重を加える前の所定領域6内の点A、B間の距離をl、荷重を加えた後の所定領域6’内の点A’、B’間の距離をl’とすると、荷重の印加によって点A、B間に生じたひずみεは、ε=(l’-l)/lより得られる。
画像

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研究分野
  • 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
展開可能なシーズ 測定対象が受ける光の照度や照射方向の変化の影響を受けずに、安定した計測を可能にする、ひずみ計装置を提供する。
被測定物の表面の高さ分布に基づいて、ひずみを計測するので、被測定物が受ける光の照度や照射方向の変化の影響を受けずに、安定したひずみ計測ができ、また、被測定物にセンサやゲージを常設する必要がないので、センサやゲージを保守する手間が不要にできる。
用途利用分野 ひずみ計測装置、ひずみ計測プログラム
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人佐賀大学, 国立大学法人 長崎大学, . 伊藤 幸広, 井上 賢優, 松田 浩, 内野 正和, . ひずみ計測方法、ひずみ計測装置およびプログラム. 特開2011-053157. 2011-03-17
  • G01B  11/16     
  • G01B  11/02     

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