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半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム

シーズコード S120008409
掲載日 2012年1月25日
研究者
  • 温 暁青
  • 梶原 誠司
技術名称 半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム
技術概要 半導体論理回路装置の回路情報において、X故障ゲートGiのファンアウト信号線に出現可能な故障論理値を表すX記号を挿入する。次に、テスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力して初期シミュレーション出力ベクトルISOを出力信号線に得る。次に、X記号に2値論理シミュレーションを行ってX分解によるシミュレーション出力ベクトルを得る。次に、実際の半導体論理回路装置に対してテスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力した際の観測出力ベクトルとシミュレーション出力ベクトルとの比較結果に応じて半導体論理回路装置の故障存在被疑領域を特定化する。
画像

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研究分野
  • 論理回路
  • 固体デバイス計測・試験・信頼性
展開可能なシーズ 効率性を保持しつつ精確性を高くした半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラムを提供する。
ゲートのファンアウト信号線に出現可能な故障論理値を表す記号を挿入し、この状態でシミュレーション出力ベクトルを得ているので、複雑、動的及び多重の故障がシミュレーション出力ベクトルに反映され、この結果、誤診断を防止でき、効率性を保持しつつ精確性を向上できる。また、故障候補ゲートに対して1つもしくは複数のシミュレーション出力ベクトルを得ているので、マッチング条件を緩和できる。
用途利用分野 故障診断付LS論理回路、LSIテスタ、論理回路設計システム
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人九州工業大学, . 温 暁青, 梶原 誠司, . 半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラム. 特開2010-217188. 2010-09-30
  • G01R  31/28     

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