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テラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析方法およびテラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析装置

シーズコード S120008438
掲載日 2012年1月27日
研究者
  • 今井 洋
  • 山内 智
技術名称 テラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析方法およびテラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析装置
技術概要 フェムト秒レーザ1から第1のビーム光と第2のビーム光を発生する。第1のビーム光を第1のテラヘルツ電磁波に変換して試料チャンバーに導入する。第1のテラヘルツ電磁波を第1の試料に伝播させて、第1の試料のテラヘルツ電磁波時間領域分光分析を行ない、特定のテラヘルツ電磁波吸収値を求める。第2のビーム光を第2のテラヘルツ電磁波に変換して試料チャンバー20に導入し、第2のテラヘルツ電磁波を第2の試料に伝播させて、第2の試料のテラヘルツ電磁波時間領域分光分析を行ない、特定のテラヘルツ電磁波吸収値を求める。第1の試料の特定のテラヘルツ電磁波吸収値と第2の試料の特定のテラヘルツ電磁波吸収値との差を求める。特定のテラヘルツ電磁波吸収値差により、試料のイオン種を同定する。
画像

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研究分野
  • 赤外・遠赤外領域の分光法と分光計
  • レーザの応用
  • 天然水の物理分析
展開可能なシーズ 試料分析チャンバー内部の環境条件に影響を受けないテラヘルツ電磁波を用いた、2種類以上の試料の構造分析方法、およびテラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析装置を提供する。
2種類以上の試料について測定する際、2種類以上の試料を同一の試料分析チャンバーに収容し、2種類以上の試料は試料分析チャンバー内部では同一の環境条件の下で置かれるので、2種類以上の試料は試料分析チャンバーの同じ水分状態で特定のテラヘルツ電磁波を吸収することができる。その結果、吸収される特定のテラヘルツ電磁波の精密な分析、測定ができ、試料の構造体の微量な(金属)含有イオンの影響が解明でき、試料に含有されている(金属)イオンの種類によって生じる差異を検出して、微量の(金属)イオン種を特定(同 定)できる。
用途利用分野 集合体構造分析装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人茨城大学, . 今井 洋, 山内 智, . テラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析方法およびテラヘルツ電磁波を用いた試料の構造分析装置. 特開2009-198278. 2009-09-03
  • G01N  21/35     

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