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イオン化装置、イオン化方法、ならびに、プログラム

シーズコード S120008668
掲載日 2012年2月8日
研究者
  • 木寺 正憲
技術名称 イオン化装置、イオン化方法、ならびに、プログラム
技術概要 イオン化装置101において、チャンバー部102には、注入部103から試料が単位時間当たり一定の注入量で注入される。導波部104から指定されたパワーの高周波を入射され、電子サイクロトロン共鳴現象によりチャンバー部102内にプラズマを生じさせる。その後、取得部106は、高周波のパワーを下げて、プラズマが維持できるパワーの下限を求める。そして、制御部107は、求められたパワーの下限から次第にパワーを上昇させて、試料のイオン化、フラグメント化を試みる。その結果、分析部108は、排出部105から排出される物質の対電荷質量比の分布を分析することができる。
画像

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研究分野
  • 電子と分子の衝突・散乱
  • プラズマ生成・加熱
展開可能なシーズ 従来の電子サイクロトロン共鳴(ECR)プラズマ発生器によるイオン化では、高分子などの試料を分析しようとしても、試料そのものの分子構造が電子によってほとんど破断されて、分子構造に関する情報が失われてしまうという問題があった。そこで、電子サイクロトロン共鳴現象を用いて高分子の試料をイオン化し、対電荷質量比を分析するのに好適なイオン化装置、イオン化方法、ならびに、イオン化装置をコンピュータにより制御するためのプログラムを提供する。
電子のエネルギーを低いレベルから細かく調整することを可能として、試料分子の結合の一部を破断してイオン化し、フラグメントイオンを発生させ、その電子のエネルギーのレベルを変化させた際にイオンやフラグメントイオンの分布がどのように変化するかを観察することで、試料分子の構造を推測することができる。
用途利用分野 イオン化装置、対電荷質量比分析装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 独立行政法人理化学研究所, . 木寺 正憲, . イオン化装置、イオン化方法、ならびに、プログラム. 特開2009-135043. 2009-06-18
  • H01J  49/10     
  • G01N  27/62     

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