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超電導軸受における磁束ピンニング機構緩和特性の試験装置。

シーズコード S120009327
掲載日 2012年3月29日
研究者
  • 樋笠 博正
  • 松下 照男
  • 小森 望充
  • 小田部 エドモンド 荘司
技術名称 超電導軸受における磁束ピンニング機構緩和特性の試験装置。
技術概要 供試用ラジアル型超電導軸受8の回転子8bは、アキシャル方向磁気軸受1の回転子1b,上部ラジアル方向磁気軸受2の回転子2b,回転駆動用電動機3の回転子3b,及び下部ラジアル方向磁気軸受4の回転子4bが夫々表面に配設された非接触、垂直立設の回転軸に同心直結され、5軸制御磁気軸受の半径及び軸方向制振自動制御により、回転子8b,1b,2b,3b,4bは、固定子8a,1a,2a,3a,及び4aに対し非接触定常定置安定化して回転駆動用電動機3により、予め定めた回転状態に制御調整可能な構成にしたことを特徴とする磁束ピンニング機構緩和特性測定装置である。
画像

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研究分野
  • 軸受
  • 超伝導応用装置
展開可能なシーズ 超電導軸受の設計に不可欠な設計データを回転、非回転に関わらず取得できる磁束ピンニング緩和試験装置を提供する。
超電導軸受の回転に随伴して生ずる特に著しい磁束ピンニング機構の緩和特性などが基因して生ずる超電導軸受の超電導磁気浮上特性の著しい劣化現象について、正確な測定方法を確立できたので、超電導軸受の軸方向変位の的確な安定性対策を図ることができる。加えて、大きな影響を与える回転損失についても測定することができるので、超電導軸受の精緻な設計上、不可欠な情報を提供でき、実用化を着実に促進できる。
用途利用分野 超電導軸受、磁束ピンニング機構緩和特性試験装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人九州工業大学, . 樋笠 博正, 松下 照男, 小森 望充, 小田部 エドモンド 荘司, . 超電導軸受における磁束ピンニング機構緩和特性の試験装置。. 特開2004-232695. 2004-08-19
  • F16C  32/04     
  • G01N  27/72     

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