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生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体

シーズコード S130010066
掲載日 2013年6月6日
研究者
  • 温 暁青
  • 梶原 誠司
  • 宮瀬 絋平
  • 皆本 義弘
  • 伊達 博
技術名称 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体
技術概要 論理値割当部105は、選択部101により選択された割当対象未定値ビットに論理値0を割り当てることによって得られる第1テストキューブと、選択された割当対象未定値ビットに論理値1を割り当てることによって得られる第2テストキューブに対して、キャプチャ遷移数数値化部103を適用し、第1テストキューブによるキャプチャ遷移数と第2テストキューブによるキャプチャ遷移数を比較し、その少ない方に対応する論理値を選択された割当対象未定値ビットに割り当てる。複数の未定値ビットの全てに論理値が割り当てるまで、キャプチャ遷移数数値化部103の演算結果に基づいて割当対象未定値ビットに論理値が割り当てられる。ここで、選択された割当対象未定値ビットに対して1が論理値として割り当てられた場合の第1テストキューブによるキャプチャ遷移数と選択された割当対象未定値ビットに対して0が論理値として割り当てられた場合の第2テストキューブによるキャプチャ遷移数との比較は比較部117により行われ、決定部119は、比較部117の比較結果により値の小さな遷移数に対応する1又は0を割り当てるべき論理値として決定する。
画像

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研究分野
  • 集積回路一般
展開可能なシーズ キャプチャ消費電力を効果的に削減可能とするテストベクトルを生成する生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体を提供する。
テストキューブに複数の未定値ビットが含まれても、選択手段により上記「X割当(ある特質を持つ未定値ビットを持たないテストベクトルを得るために、論理値をテストキューブ内の未定値ビットに割当てる過程)の対象となる未定値ビットの選択問題」が解決可能で、キャプチャ遷移数数値化手段及び論理値割り当て手段により「X割当の割り当て論理値決定問題」が解決可能となる。そのため、キャプチャ消費電力を効果的に削減可能なテストベクトルが生成可能となる。論理回路がフルスキャン設計された順序回路である場合において、スキャンフリップ・フロップのような遷移だけでなく、回路全体の遷移数を削減することが可能になる。
用途利用分野 半導体設計CAD、論理設計システム、デバイスシミュレータ、シリコンコンパイラ
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人九州工業大学, . 温 暁青, 梶原 誠司, 宮瀬 絋平, 皆本 義弘, 伊達 博, . 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体. 特開2008-082867. 2008-04-10
  • G01R  31/3183   
  • G01R  31/28     

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