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診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体

シーズコード S130010070
掲載日 2013年6月6日
研究者
  • 温 暁青
  • 梶原 誠司
  • 宮瀬 絋平
  • 皆本 義弘
  • 伊達 博
技術名称 診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体
技術概要 パーテストX故障診断フローは、2つのステージで構成される。一つは故障情報の収集ステージであり、他方は診断の結論を出すステージである。ステージ1(情報収集)では、X故障はすべてのフェイルするテストベクトルでシミュレートされ(ST1、ST2参照)、シミュレート応答は観測応答と比較され、診断テーブルが作成される(ST3~ST5参照)。ステージ2(診断推論)では、診断結果は故障診断テーブルから生成される。基本の工程は、故障診断テーブル内の全部が0ではない列に一致するすべてのフェイルするテストベクトルを被覆する最小集合を見つけることである。そのような故障集合はマルチプレットと呼ばれる。このとき、各マルチプレットのスコアがすべての構成されたX故障の診断値を追加することで計算される(ST6、ST7参照)。このスコアはマルチプレットの順番を決定するために使用され、最上位のマルチプレット内のX故障は最終的な故障診断結果を形成する。
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研究分野
  • 集積回路一般
展開可能なシーズ 診断の分解能をさらに向上させてさらに良好な診断結果を得ること が可能な診断装置等を提供する。
ビアのような受動素子に関係する欠陥による故障も特定でき、特定箇所を細分化できることから、診断の分解能をさらに向上させて診断時間の短縮化を図りつつ、さらに良好な診断結果を得ることができる。さらに、いわゆる故障組み合わせの全ての発生確率を等価とせず診断を行うことから、特に実回路の動作における複数の閾値電圧と中間電圧との関係を考慮した診断を行える。その結果、歩留まり向上、プロセス改善、信頼性の改善が図られる。
用途利用分野 半導体設計CAD、論理設計システム、デバイスシミュレータ、シリコンコンパイラ
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人九州工業大学, . 温 暁青, 梶原 誠司, 宮瀬 絋平, 皆本 義弘, 伊達 博, . 診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体. 特開2008-116374. 2008-05-22
  • G01R  31/28     
  • G06F  11/26     
  • G06F  11/22     

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