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表面加工が施された試料保持面を有する試料ターゲットおよびその製造方法、並びに当該試料ターゲットを用いた質量分析装置

シーズコード S130010080
掲載日 2013年6月6日
研究者
  • 奥野 昌二
  • 和田 芳直
  • 荒川 隆一
技術名称 表面加工が施された試料保持面を有する試料ターゲットおよびその製造方法、並びに当該試料ターゲットを用いた質量分析装置
技術概要 微細な凹凸構造を有する試料保持面の酸化を抑制するために有機化合物による化学修飾を用いる場合の問題点を解決するために、試料保持面を金属で被覆し、これによりイオン化の効率が顕著に向上することを見出した。すなわち、この試料保持面を金属で被覆することにより、試料保持面の導電性を大きくすることで、イオン化効率の顕著な向上という効果を得ることができたと考えられる。従って、本発明にかかる試料ターゲットは、試料保持面の導電性を大きくすることでイオン化の効率が向上するような、金属で被覆されている試料ターゲットである。従って、本発明の試料ターゲットには、その試料保持面の表面が、酸化される金属で被覆されているものも含まれる。もちろん、用いられる金属が酸化されにくい金属である場合には、イオン化効率が向上し、かつ、凹凸構造を有する試料保持面の酸化も抑制される。
画像

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研究分野
  • 質量分析計
展開可能なシーズ DIOS(Desorption/Ionization on Porous Silicon)法による質量分析において、得られる分析結果の安定性を向上し、その実用性をより高めることができる試料ターゲットおよびその製造方法と、この試料ターゲットを用いた質量分析装置を提供する。
レーザー脱離イオン化質量分析装置においては、測定対象となる試料を上述の試料ターゲット上に載置して使用することによって、当該試料に対してレーザー光を照射した場合に試料のイオン化を良好に行うことができる。
用途利用分野 レーザー脱離イオン化質量分析計、GC質量分析計、試料作製装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 独立行政法人科学技術振興機構, 地方独立行政法人 大阪府立病院機構, . 奥野 昌二, 和田 芳直, 荒川 隆一, . 表面加工が施された試料保持面を有する試料ターゲットおよびその製造方法、並びに当該試料ターゲットを用いた質量分析装置. . 2007-08-09
  • G01N  27/64     
  • G01N  27/62     

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