TOP > 技術シーズ検索 > 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム

近接場光学顕微鏡の信号光測定システム

シーズコード S130010213
掲載日 2013年6月6日
研究者
  • 市村 垂生
  • 矢野 隆章
  • 井上 康志
  • 河田 聡
技術名称 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム
技術概要 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム10は、先端が尖鋭なプローブ12と試料の相対距離を周期的に変化させる振動付与機構、プローブ12近傍に近接場光を生成させる光の照射機構、プローブ12と試料の相対距離の変化に同期して、光照射機構が照射する光の強度変調機構、試料から放射される信号光の測定機構を備える。光強度変調機構は、プローブ12と試料との相対距離の変化に同期して光照射機構が照射する光をON/OFFする。光強度変調機構は、ON/OFFの切換タイミングを変更可能に構成する。プローブ12と試料の相対距離の周期的変化に同期して試料に照射される光強度が変化するため、信号光の強度もプローブ12と試料との相対距離の周期的変化に同期して変化するため、例えば1周期分の信号光のうち最大値の信号光の強度や分光特性等を計測することにより、プローブ・試料間距離が任意の大きさのときの信号光の検出が可能になる。従って、プローブ・試料間距離に依存して信号光の強度や分光特性が変化する様子を観察できる。
画像

※ 画像をクリックすると拡大します。

thum_2008-241151.gif
研究分野
  • 光学的測定とその装置一般
展開可能なシーズ 近接場光学顕微鏡は、電磁気学的な相互作用の介在により、プローブ先端と試料の距離に依存して計測される信号光(近接場光)の光強度や光学特性が変化する。信号光の、プローブ及び試料間距離依存性を調べることができれば、プローブと分子との相互作用の解明が可能になるが、従来の制御方式は、プローブ先端と試料間を一定の距離に保つように制御するもので、任意の距離における信号光を検出しない。そこで、近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べられる近接場光学顕微鏡の信号光測定方法を提供する。
プローブと試料の相対距離の周期的変化に同期して試料に照射される光強度が変化することにより、プローブ・試料間距離が任意の大きさのときの信号光を検出でき、信号光の強度や分光特性のプローブ・試料間距離に依存性を調べられる。
用途利用分野 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 独立行政法人科学技術振興機構, . 市村 垂生, 矢野 隆章, 井上 康志, 河田 聡, . 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム. 特開2010-071871. 2010-04-02
  • G01Q  60/18     

PAGE TOP