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光学材料のレーザ損傷耐性推定方法及びレーザ損傷耐性推定装置

シーズコード S130010873
掲載日 2013年6月6日
研究者
  • 神村 共住
  • 中村 亮介
技術名称 光学材料のレーザ損傷耐性推定方法及びレーザ損傷耐性推定装置
技術概要 光学材料が蛍光を発光する場合と蛍光を発生しない場合とで、透過率の低下とレーザ損傷耐性閾値の間の関係に異なる傾向があることを見出し、本発明を成すに至った。この光学材料のレーザ損傷耐性推定方法は、光学材料に第1波長のレーザ光を照射して蛍光発光を観測することを含む予備測定ステップと、光学材料の一部である測定領域に2光子吸収を生じさせつつ照射強度を変化させて、この測定領域における照射強度に対する透過率の変化を測定する測定ステップと、照射強度に対する透過率の変化に基づいて、予め求められた蛍光発光を伴う場合の照射強度に対する透過率の変化とレーザ損傷耐性の相関データを参照して第1波長におけるレーザ損傷耐性を推定する第1推定ステップとを含み、第1推定ステップにおいて、照射強度に対する透過率の変化に基づいて、蛍光発光が観測されなかったときには(S102:NO)、予め求められた蛍光発光を伴わない場合の照射強度に対する透過率の変化とレーザ損傷耐性の相関データを参照して第1波長におけるレーザ損傷耐性を推定する(S104)。
画像

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研究分野
  • レーザ一般
  • 非破壊試験
展開可能なシーズ 光学材料がレーザ光を照射することにより蛍光発光を生じる場合でも、非破壊でレーザ損傷耐性を精度よく評価することができるレーザ損傷耐性測定方法とレーザ損傷耐性測定装置を提供する。
蛍光発光の観測及び照射強度に対する透過率の変化は非破壊で測定することができ、その非破壊の測定データに基づいてレーザ損傷耐性が推定され、蛍光発光を生じる光学材料と蛍光発光を生じない光学材料の両方のレーザ損傷耐性を非破壊で求めることができる。
用途利用分野 レーザ損傷耐性非破壊推定装置、有機材料非破壊測定装置、ICパッケージ非破壊検査装置、
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人常翔学園, . 神村 共住, 中村 亮介, . 光学材料のレーザ損傷耐性推定方法及びレーザ損傷耐性推定装置. 特開2009-036706. 2009-02-19
  • G01N  21/64     
  • G01N  21/59     
  • G01N  17/00     

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