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測定装置及び測定方法

シーズコード S130011232
掲載日 2013年6月7日
研究者
  • 早川 慎二郎
技術名称 測定装置及び測定方法
技術概要 測定装置1は、少なくとも所定のエネルギ帯域の成分を含むX線を放射するX線源2、X線源2から放射したX線を集光する集光素子3、集光素子3によるX線の集光位置に対して、サンプル10を進入退避可能に載置する試料台4、集光位置から発散するX線を斜入射することにより、そのX線を分光する分光結晶5、分光結晶5により分光されたX線の強度分布を検出する位置敏感X線検出器6を備え、演算装置7により、検出装置6が検出した強度分布に基づいて、サンプル10のX線吸収スペクトルを演算により求める。測定装置1は、所定のエネルギ帯域のX線だけを集光素子3に入射させるフィルタ11を備える。
画像

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研究分野
  • 構造決定法
展開可能なシーズ シンクロトロン放射光を用いたX線吸収微細構造測定、即ちマイクロXAFSにより、微細構造の高精度測定が可能であるが、シンクロトロンは極めて巨大な施設で誰しもが利用できない。一般的なX線源を用いると、高いエネルギ分解能を得るために、光源又は入射スリットのサイズを小さくせざるをえず、ビーム強度が犠牲になる。そこで、一般的なX線源を用いて、高精度なXAFS測定を行うことができる測定装置及び測定方法を提供する。
測定装置は、少なくとも特定のエネルギ帯域の成分を含むX線を、集光素子を用いて、サンプル上に集光するので、サンプルに照射するX線のビーム強度の損失を小さくした状態で、X線のビームサイズを小さくできる。この結果、一般的なX線源を用いて、高いエネルギ分解能でのXAFS測定ができる。
用途利用分野 X線吸収微細構造測定装置、リチウムイオン2次電池正極材料の微細構造測定装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人広島大学, . 早川 慎二郎, . 測定装置及び測定方法. 特開2011-033537. 2011-02-17
  • G01N  23/06     

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