TOP > 技術シーズ検索 > 噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法

噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法

シーズコード S130011235
掲載日 2013年6月7日
研究者
  • 高野 頌
  • 西田 潤一
  • 楠澤 英夫
技術名称 噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法
技術概要 噴霧粒子撮像解析システムは、噴霧粒子の集合Mに光を照射する光源部1、2、噴霧粒子の集合Mを所定の時間間隔で撮像する撮像部3、4、撮像部3,4によって撮像した画像を記録する記録部および制御部8を備え、制御部8は、画像から粒子を検出し、粒子の粒子径及び円形度を求め、円形度が所定のしきい値以上である粒子を焦点深度内の粒子の候補として選択し、連続測定した2枚の画像の相互相関から平均速度を求め、連続測定した2枚の画像における全粒子の組み合わせについて粒子速度を求め、粒子速度と平均速度の方向が一致し、粒子径が一致し、且つ、粒子速度が平均速度に対して所定範囲内にある粒子を対応する粒子として決定する。
画像

※ 画像をクリックすると拡大します。

thum_2009-028421.gif
研究分野
  • 図形・画像処理一般
展開可能なシーズ エアロゾル微粒子の動力学的挙動を解明するためには、粒子径および粒子速度をそれぞれ個別に測定するのではなく、個々の粒子について粒子径および粒子速度を同時に計測することが必要である。撮像画像に対して画像処理を行うことによって、粒子径および粒度速度を同時に測定できる噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法を提供する。
噴霧粒子撮像解析システムは、撮像した対応する2枚の画像中の噴霧粒子(特に噴霧液滴粒子)を自動的に1対1に対応でき、噴霧粒子の粒子径及び粒子速度を同時に精度よく測定できる。特に、粒子径が約0.5~2μmと可視光の波長に近い大きさの粒子に関しても適用できる。撮像装置と波長の異なる複数の光源とを使用した構成とすることにより、高速撮像ddきる高価な撮像装置を使用せず、安価なシステムにできる。噴霧粒子撮像解析システムは、ミー散乱のような、粒子径に依存してその角度分布が大きく変化する場合や、多重散乱が生じる場合にも適用できる。
用途利用分野 噴霧粒子撮像解析システム
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人同志社, . 高野 頌, 西田 潤一, 楠澤 英夫, . 噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法. 特開2010-185691. 2010-08-26
  • G01N  15/00     
  • G01N  15/02     
  • G01B  11/08     

PAGE TOP