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偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法

シーズコード S130011250
掲載日 2013年6月7日
研究者
  • 若山 俊隆
  • 吉澤 徹
  • 大谷 幸利
技術名称 偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法
技術概要 偏光特性測定装置は、第1及び第2の偏光変調器、第1及び第2の偏光変調器と測定対象で光を変調して得る測定光を受光する受光部を含み、第1の偏光変調器は、第1の偏光子22と第1の1/4波長板24を含み、第2の偏光変調器は、第2の偏光子と第2の1/4波長板42とを含む。偏光特性測定装置は、光源12から出射した光を、第1の偏光子22及び第1の波長板24を介して測定対象30に入射させ、測定対象30によって変調された光を、第2の1/4波長板42及び第2の偏光子を介して受光部に入射させる。第1及び第2の波長板が、位置によって異なる複数の主軸方位を有し、第1の1/4波長板42の各位置における主軸方位と、第1の1/4波長板24の各位置に対応する第2の1/4波長板42の各位置における主軸方位の比が、それぞれ1:N(Nは2以上の整数)である。カメラ50は、円筒形スクリーン60の内面に投射されたリングビームRBを撮像し、画像データを演算装置70に対して出力する。
画像

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研究分野
  • 偏光測定と偏光計
展開可能なシーズ 測定対象の偏光特性を測定する手法において、2重回転位相子法および電気光学変調法では、時系列な偏光変調であるため、実時間での測定ができず、測定対象が時系列に変化する場合に適さない問題点があった。そこで、実時間で測定できる偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法を提供する。
偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法は、、第1及び第2の偏光変調器によりビーム断面内の位置に応じた偏光変調を行い、1回の測定光の授受により偏光特性を測定できる。従来、時系列的に偏光変調して取得していた光強度分布を、1回の画像の撮像(1回の測定光の授受)により取得でき、実時間で偏光特性を測定できる。また、ビーム断面内の位置に応じて偏光変調した光の強度分布を容易に検出できる。
用途利用分野 偏光特性測定装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人 埼玉医科大学, 国立大学法人宇都宮大学, . 若山 俊隆, 吉澤 徹, 大谷 幸利, . 偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法. 特開2010-230565. 2010-10-14
  • G01N  21/21     

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