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偏光測定装置及び偏光測定方法

シーズコード S130011995
掲載日 2013年6月10日
研究者
  • 大谷 幸利
  • 田中 政之介
技術名称 偏光測定装置及び偏光測定方法
技術概要 偏光測定装置は、分析対象光を偏光変調する偏光変調器20と、偏光変調された光の所定の偏光成分を透過させる検光子30とを備える。さらに、検光子30を透過した光の光強度を検出する検出手段40と、検出手段40により検出された光強度に基づいて分析対象光の偏光特性要素を演算する演算部60とを備える。そして、偏光変調器20は、第1の可変位相子21と、第1の可変位相子と検光子との間に配置された第2の可変位相子22とを含み、第2の可変位相子の主軸は第1の可変位相子の主軸に対して45°の奇数倍傾いている。2つの液晶可変位相子の主軸方位をこのように設定したことにより、偏光変調器20による分析対象光の偏光変調は、ポアンカレ球において2つの軸(S1軸及びS2軸)回りの回転のみを含み、S3軸回りの回転を含まない単純な動きとなるため、分析対象光の偏光状態を求めるための理論式を単純にすることができる。
画像

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研究分野
  • 偏光測定と偏光計
展開可能なシーズ 分析対象光の偏光状態及びその波長分散を効率よく測定することができる偏光測定装置及び偏光測定方法を提供する。
分析対象光のストークスパラメータの波長分散が精度良く測定され、それにより分析対象光が透過した試料の波長分散もまた精度良く測定ができる。
用途利用分野 偏光測定装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人宇都宮大学, 株式会社アタゴ, . 大谷 幸利, 田中 政之介, . 偏光測定装置及び偏光測定方法. 特開2012-103010. 2012-05-31
  • G01N  21/21     

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