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質量分析機器用試料イオン化装置

シーズコード S130012340
掲載日 2013年6月10日
研究者
  • 持田 由幸
技術名称 質量分析機器用試料イオン化装置
技術概要 質量分析機器用試料イオン化装置Dは、熱風加熱手段1によって加熱され、かつ測定試料を固定化して展開するための基板として、薄層クロマトグラフィー基板(TLC基板)11を備える。さらに、TLC基板11上に固定化され、順次展開された測定試料12が存在する展開箇所に、熱風をあてるための熱風加熱手段1を備える。この熱風がTLC基板11に展開されている当展開箇所にあたることによって、展開箇所に存在する測定試料12がガス化し測定試料ガス12aとなる。そして、測定試料12は、TLC基板11から完全に脱離することとなる。すなわち、質量分析機器用試料イオン化装置Dは、熱風加熱手段1によりTLC基板11から測定試料12を脱離させ、その後にイオン化を行うという別々の工程により、測定試料をイオン化させることにより、測定試料のイオン化効率の向上をしている。
画像

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thum_2011-040382.GIF
研究分野
  • 電子との衝突・散乱
  • 質量分析計
展開可能なシーズ 大気圧下において、イオン化効率にきわめて優れ、微量の測定試料を高感度で分析することができる質量分析機器用試料イオン化装置を提供する。
大気圧下において、測定試料をきわめて効率良くイオン化することができ、有機過酸化物等の測定試料を高感度で分析できる質量分析機器用試料イオン化装置を提供することができる。また、測定試料のイオン化に使用する励起ガスとして、アルゴンガスを使用でき、きわめて廉価に測定試料をイオン化することができる質量分析機器用試料イオン化装置を提供することができる。
用途利用分野 試料イオン化装置、質量分析機器
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人神奈川大学, . 持田 由幸, . 質量分析機器用試料イオン化装置. 特開2012-177605. 2012-09-13
  • G01N  27/62     
  • G01N  27/64     

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