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分光特性測定装置及びその校正方法

シーズコード S130012354
掲載日 2013年6月10日
研究者
  • 石丸 伊知郎
技術名称 分光特性測定装置及びその校正方法
技術概要 分光特性測定装置10は測定モード及び校正モードを備えている。測定モードでは被測定物Sの各輝点から発せられた光を分割光学系を通して第1及び第2反射部251,252に入射させ、そこで反射された光を結像光学系26によって干渉像を形成する。第1反射部251を移動させることにより分割光学系から第1及び第2反射部を経て結像光学系に向かう第1及び第2反射光の間の相対的な光路長差を伸縮させ、そのときの干渉像の光強度変化に基づき被測定物の各輝点のインターフェログラムを求める。校正モードでは、輝点から出射される所定波長λの光を分割光学系に入射させることにより、輝点に対応する複数の干渉像を形成させ、そのときの光強度変化に基づき光強度変化の1周期に対応する第1反射部の移動量を求め、輝点の波長λ、第1反射部の移動量、干渉像の画角θから第1反射部の設置角を求める。
画像

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研究分野
  • 分光法と分光計一般
展開可能なシーズ 広視野分光イメージングを行う場合であっても高精度に分光特性を測定することができる分光特性測定装置及びその校正方法を提供する。
第1反射部の設置角を予め求め、この設置角と第1反射部の移動量及び被測定物の各測定点の画角から画角毎の光路長差を求めることができるので、検出感度の低下を招くことなく高精度に被測定物の各測定点の分光特性を測定することができる。また、被測定物の測定点の画角の大小に関係なく真の光路長差を求めることができるので、広視野分光イメージングに有用な分光特性測定装置を提供することができる。
用途利用分野 分光特性測定装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立大学法人 香川大学, . 石丸 伊知郎, . 分光特性測定装置及びその校正方法. 特開2012-181060. 2012-09-20
  • G01J   3/45     

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