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時間分解・非線形複素感受率測定装置

シーズコード S090000059
掲載日 2009年9月14日
研究者
  • 犬塚 史一
  • 三沢 和彦
  • 覧具 博義
技術名称 時間分解・非線形複素感受率測定装置
技術概要 装置1では、偏光分割型サニャック型干渉光路8は、被測定試料3に励起光パルス4を照射して誘起した非線形複素感受率を参照光5とプローブ光6間の位相差に変換する。位相差掃引機構9は、偏光分割型サニャック型干渉光路8を出力した参照光5とプローブ光6の位相差を掃引する。分光器11は、位相差掃引機構9を出力した干渉光10を空間的に波長分散する。光強度測定器12は、空間的に波長分散された波長ごとの干渉光強度を測定する。ロックイン・アンプ13は、励起光パルス4の照射タイミングに同期して干渉光強度を検出する。コンピュータ14は、測定結果を解析・計算し時間分解・非線形複素感受率を表示する。さらに、位相補償機構15は、参照光5とプローブ光6の位相差を精密に調整する。そして、偏光分割型サニャック型干渉光路8から出力した参照光5とプローブ光6間の位相差を掃引して、各々の掃引位相差における参照光5とプローブ光6の干渉光強度を測定して求めた位相差掃引干渉波形から、時間分解・非線形複素感受率を求める。
画像

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S090000059_01SUM.gif
研究分野
  • 光学的測定とその装置一般
展開可能なシーズ プローブ光の波面の歪みに影響されることなく測定できる時間分解・非線形複素感受率測定装置を提供する。
装置は、参照光とプローブ光に単一の光パルスから分割した互いに直交する偏光を用いるので、参照光とプローブ光間の位相差を掃引でき、位相差を掃引できるので、参照光とプローブ光間の位相差掃引干渉波形が測定できる。
用途利用分野 光学材料
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人科学技術振興機構, . 犬塚 史一, 三沢 和彦, 覧具 博義, . 時間分解・非線形複素感受率測定装置. 特開2004-163384. 2004-06-10
  • G01M  11/00     
  • G01J   9/02     
  • G01J  11/00     

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