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光再構成型ゲートアレイの書込状態検査方法及び書込状態検査装置、並びに光再構成型ゲートアレイ

シーズコード S090001327
掲載日 2010年3月5日
研究者
  • 渡邊 実
  • 小林 史典
技術名称 光再構成型ゲートアレイの書込状態検査方法及び書込状態検査装置、並びに光再構成型ゲートアレイ
技術概要 ORGA(光再構成型ゲートアレイ)内の論理回路構造を、検査対象光再構成ビット素子に照射する光信号をオンからオフに切替えた場合に、最低一つの論理レベル又は出力インピーダンスが変化する論理構造に構成する光信号パターンであって、検査対象光再構成ビット素子に照射する光信号がオン又はオフである第1、第2の光信号パターンを、論理回路に対し順次照射入力する。それと伴に、各々の論理出力端子に接続され、当該出力端子の論理レベルがHレベル、Lレベル、又は高インピーダンスの何れの状態であるかを検出する出力状態検出回路により、各々の出力状態を検出する。検出された状態を、入力された光信号パターンの正常な出力状態と比較することにより、各光再構成ビット素子について光信号による情報書込状態の合否判定を行う。
画像

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研究分野
  • 論理回路
  • 固体デバイス計測・試験・信頼性
展開可能なシーズ VLSI部の論理回路内に組み込まれた書込状態検査回路は、論理回路内のゲートアレイの実装領域を圧迫し、論理回路のゲート密度を向上させる上で大きな障害となる。そこで、光再構成型ゲートアレイの論理回路内部の書込状態検査のための専用回路が不要な書込状態検査技術を提供する。
論理回路内に検査回路を組み込む必要がないので、書込状態検査のための回路の実装面積を節約できる。そして、書込状態検査のための回路が、光再構成型ゲートアレイのゲート密度を向上させる。また、光再構成型ゲートアレイの内部回路を用いて光信号による書込状態の検査・診断を行うことができるので、光信号を出力する光学部と、光再構成型ゲートアレイが実装されたチップとの間の位置合わせをする際の利便性が向上する。
用途利用分野 ホログラム・メモリ、CD,MD,DVD
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人科学技術振興機構, 国立大学法人九州工業大学, . 渡邊 実, 小林 史典, . 光再構成型ゲートアレイの書込状態検査方法及び書込状態検査装置、並びに光再構成型ゲートアレイ. 特開2006-005809. 2006-01-05
  • H03K  19/173    
  • G01R  31/317    
  • H01L  21/82     

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