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光デバイスの特性評価システム

シーズコード S090001974
掲載日 2010年3月19日
研究者
  • 後藤 俊夫
  • 西澤 典彦
技術名称 光デバイスの特性評価システム
技術概要 波長可変フェムト秒短パルス光源1と、波長可変フェムト秒短パルス光源1から出力される短パルス光を導入する被測定デバイスと、被測定デバイスの広帯域の周波数特性や時間応答特性を評価する装置とを具備する。ここで、被測定デバイスは光受光器である。または、被測定デバイスは光増幅器や光ファイバーである。fsファイバーレーザー1から出力される短パルスを光ファイバー3に入射し、光ファイバー3中の非線形効果によって、波長をシフトしたfsソリトンパルスSを生成する。このソリトンパルスSの波長は励起パルスの強度を変化させるだけで、ほぼ線形に変化させることができる。このfsソリトンパルスSを被測定デバイス4に入射し、サンプリングオシロスコープ5を用いて時間応答を観測する。更に、その観測結果をパーソナルコンピュータ6を用いてフーリエ変換することにより、光デバイスの周波数応答特性を得ることができる。また、ソリトンパルスの波長を変化させることによって、光受光器4の周波数応答や光デバイスの量子効率の波長依存性を測定することができる。
画像

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研究分野
  • 光デバイス一般
展開可能なシーズ 波長可変フェムト秒短パルス光源を用いて、光デバイスの特性を的確に、かつ、容易に評価することができる光デバイスの特性評価システムを提供する。
被測定デバイスの周波数応答特性を評価することができる。更に、励起光とソリトンパルスを用いて、光ファイバーの波長分散の測定を広帯域に渡って行うこともできる。また、2つの短パルスを生成することによって、光スイッチ等に用いられる半導体可飽和吸収素子の時間応答特性を測定できる。
用途利用分野 光デバイスの特性評価システム
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人科学技術振興機構, . 後藤 俊夫, 西澤 典彦, . 光デバイスの特性評価システム. 特開2000-258299. 2000-09-22
  • G01M  11/00     

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