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側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置

シーズコード S090002905
掲載日 2010年3月26日
研究者
  • 大図 章
技術名称 側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置
技術概要 まずレーザー光をシリンドリカルレンズ等の出射光学系2を用いてシート状に広げて気中に照射する。上方図に示すようにレーザー光3のシートの厚みは、レーザー径と同等の長さである。一方、扇状に広がる方向の角度は出射光学系2のレンズの焦点距離によって決まり、レーザー光3は伝播距離とともに照射領域が広がる。このレーザー光3が通過するシート状の空間領域からそこに浮遊する微粒子5個々から図のように側方散乱光8が発生する。側方散乱光8は、シート面に対して垂直方向から集光光学系7である望遠レンズ等で集光され、レーザーパルス光3と同期をとった高感度2 次元光検出器6により斑点状の画像として計測制御システム6で観測される。ここで得られる側方散乱光8の画像は、遠レンズ4の視野内にあり、かつレーザー光3のシート領域内にある微粒子5からのものである。レーザー光3が高感度2 次元光検出器6のシャッター時間内にシート領域内の望遠レンズ4の視野内を通過したときに個々の微粒子から発せられた側方散乱光8が画面に多数の斑点となって検出される。
画像

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S090002905_01SUM.gif
研究分野
  • 光学的測定とその装置一般
  • 測光と光検出器一般
展開可能なシーズ 遠方の限られた空間に存在する微粒子の数、密度、粒径分布及び空間分布等を同時に算出し検知する、側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置を提供する。
非接触かつ遠隔での気中に浮遊する微粒子、エアロゾルの数量及び粒径分布の直接且つ同時測定が可能となるため、これまで測定が困難であった場所でも微粒子の計測が容易となる。また、同時にそれらの空間分布を精度良くかつ瞬時に短時間で測定することができる。
用途利用分野 遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置、微粒子測定器
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, . 大図 章, . 側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置. 特開2005-062055. 2005-03-10
  • G01N  15/02     

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