TOP > 技術シーズ検索 > 陽電子を用いた材料評価装置および評価方法

陽電子を用いた材料評価装置および評価方法

シーズコード S090003345
掲載日 2010年3月26日
研究者
  • 白井 泰治
  • 荒木 秀樹
  • 吉田 政司
技術名称 陽電子を用いた材料評価装置および評価方法
技術概要 陽電子線源1と被測定材料6とを離して配置し、線源1と被測定材料6の間に薄いプラスチックシンチレータを置き、そこを陽電子が通過するのを検出して、材料6への陽電子の入射時刻を知るようにする。同一軸上に、陽電子線源1、電磁レンズ3、陽電子検出器5、被測定材料6の順に配列し、被測定材料6の近傍に放射線検出器7を設置し、線源1から被測定材料6までの陽電子の飛翔経路を真空に排気できる容器2中に置く。陽電子線源1から放出された陽電子線4は、電磁レンズ3で集束され、陽電子検出器5を通って被測定材料6に入射され、被測定材料6内で陽電子は電子と衝突して消滅し、γ線を放出する。陽電子を検出器5で検出してから、被測定材料6より放出されるγ線(511KeV)を感知するまでの時間を計測し、陽電子の寿命を知る。
画像

※ 画像をクリックすると拡大します。

S090003345_01SUM.gif
研究分野
  • 物理分析
  • 放射線検出・検出器
展開可能なシーズ β+壊変型放射性同位体を線源として得られた陽電子を材料に入射し、その寿命を計測したり、発生するγ線を計測することにより、金属、半導体、化合物等の材料中の、主として空孔、空孔集合体、転位など結晶の欠陥情報を検知し評価するのに用いる装置、および方法を提供する。
陽電子線源と被測定材料とを離して設置し、有効陽電子数の大幅低下を補うことができる。また、線源の陽電子エネルギーが大きく変わっても、集束用の電磁レンズの磁場強さを大きく変えることなく適用できる。これにより、材料中の結晶学的微少欠陥が精密に評価できる陽電子寿命の測定や発生γ線エネルギ計測を、より効果的に活用できる。
用途利用分野 材料評価装置、陽電子検出器
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 独立行政法人 科学技術振興機構, 白井 泰治, 住友金属テクノロジー株式会社, . 白井 泰治, 荒木 秀樹, 吉田 政司, . 陽電子を用いた材料評価装置および評価方法. 特開2001-116706. 2001-04-27
  • G01N  23/22     

PAGE TOP