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顕微鏡装置

シーズコード S090003597
掲載日 2010年3月30日
研究者
  • 安田 仲宏
  • 本間 義浩
技術名称 顕微鏡装置
技術概要 この飛跡検出用固体への投光位置は、顕微鏡の視野A内にある飛跡検出用固体の上面であって、ラインセンサで撮像する範囲Bの両側の近傍位置C1、C2に設定する。近傍位置C1は前方投光手段の投光部からのレーザ光の投光位置であり、近傍位置C2は後方投光手段の投光部からのレーザ光の投光位置を示す。ラインセンサで撮像するライン画面に、飛跡検出用固体からのレーザ反射光が入ることを確実に防止でき、かつ撮像範囲Bまでの焦点距離を、その近傍で計測することによって、できるだけ正確に計測することが可能になる。この2組のレーザ投光手段を備えた合焦手段によって、飛跡検出用固体の傾きと焦点距離との調整を迅速に行える。また、2組のレーザ投光手段を備えたのは、飛跡検出用固体をX方向に移動させつつ、ラインセンサでライン画像を順次撮像するときに、その左方向と右方向との移動で、レーザ光を投光する近傍位置C1等が、ライン画像の撮像する範囲Bより前側に位置するように、使い分けるためである。ラインセンサを左右交互に双方向走査してもラインセンサで撮像する範囲の前方側で焦点距離を調整でき、ピント調整が正確に行える。
画像

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研究分野
  • 光学顕微鏡,望遠鏡
  • トレーサ利用一般
展開可能なシーズ 放射線入射量や細胞組織等の検査等において、試料の所定の領域内の撮像を、迅速かつ高精度に行なうことができる顕微鏡装置を提供する。
ラインセンサで撮像する範囲の近傍に投光手段の投光位置が設けられているため、ラインセンサで撮像するときにはピント調整が正確に行われる。また、前方投光手段と後方投光手段との2つの投光手段を設けたときにはラインセンサを左右交互に双方向走査してもラインセンサで撮像する範囲の前方側で焦点距離を調整でき、ピント調整が正確に行われる。
用途利用分野 顕微鏡、合焦装置
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, セイコープレシジョン株式会社, . 安田 仲宏, 本間 義浩, . 顕微鏡装置. 特開2003-295065. 2003-10-15
  • G02B  21/06     
  • G02B   7/28     
  • G02B  21/36     
  • G03B  13/36     

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