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表面皮膜の剥離・密着性測定方法

シーズコード S990003168
掲載日 2000年12月28日
研究者
  • 村松 由樹
研究者所属機関
  • 独立行政法人 物質・材料研究機構
研究機関
  • 独立行政法人 物質・材料研究機構
技術名称 表面皮膜の剥離・密着性測定方法
技術概要 本技術は、レーザースペックル歪測定法を用いて皮膜の剥離と密着性を非接触で測定する方法である。レーザースペックル歪測定法は、物体表面の測定点にレーザービームを照射し、乱反射したビームの相互干渉によって観察面上に生じる不規則な斑点の移動、変化により物体表面の歪を非接触で測定するものである。皮膜の密着性試験を行なうには、あらかじめ皮膜のない基板に局部加熱または他の方法で歪を与え、基板表面の歪をレーザースペックル歪測定法によって測定しておく(歪変化曲線として記録する)。次に皮膜付きの基板に同じ方法で歪を与え、同様に歪を測定する。この皮膜の歪変化曲線と基板の歪変化曲線とを対比し、乖離箇所を基に皮膜の剥離を判定する。この方法で剥離および密着性試験を行なうと、皮膜の剥離と基板の歪を直接関連付けることができ、また目視では判定できない剥離を検出することができる。
画像

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従来技術、競合技術の概要 接触式の密着性試験法としてスクラッチ試験法や引っ張り試験法があるが、これらの方法は剥離を生じる限界歪を測定することができない。また、剥離を生じる限界歪を測定する方法として曲げ試験やカップ試験があるが、皮膜の亀裂を目視で判定しているため信頼性に問題がある。
研究分野
  • 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
展開可能なシーズ レーザースペックル歪測定法を用いた皮膜の剥離および密着性測定方法
用途利用分野 各種皮膜の剥離および密着性試験
製品使用時の皮膜剥離判定
関連発表論文 (1)村松由樹, 黒田聖治. レーザースペックルひずみ測定法による溶射皮膜の耐熱剥離性の検討. 溶接構造シンポジウム講演論文集. vol.1997,1997,p.209‐212.
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人物質・材料研究機構, . 村松 由樹, 黒田 聖治, . 表面皮膜の剥離・密着性測定方法. 特開平11-142319. 1999-05-28
  • G01N  19/04     
  • G01N   3/00     

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