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粒径分布測定装置

シーズコード S100001659
掲載日 2010年10月4日
研究者
  • 林 茂
  • 高橋 位
技術名称 粒径分布測定装置
技術概要 センサ数以下の連続する粒径区分で構成され、最小粒径を下限、最大粒径を上限とする当初粒径区間Sを設定する。粒径区分の確率密度が負にならない範囲で、その確率密度に対する予測散乱エネルギーベクトルと実測散乱エネルギーベクトルとが最も一致するように各粒径区分の確率密度を求める。そして、最大粒径区分と最小粒径区分のいずれか一方の確率密度が所定値を越えた場合には、予測散乱エネルギーベクトルと実測散乱エネルギーベクトルとが最も一致する粒径区間を、最大粒径区分の確率密度が所定値を越える場合にはより大粒径側へ、最小粒径区分の確率密度が所定値を越える場合にはより小粒径側へ、1粒径区分ずつシフトさせる。これにより得られた新粒径区間Sに基づいて、粒子群の粒径分布を得る算定手順を解析部に予め記憶させる。この手段によれば、測定粒子の大粒径側が粒径区間の上限を超えたり、測定粒子の小粒径側が粒径区間の下限を超えたりする場合でも、実際の粒径分布と誤差が生じてしまうことが無く、代表粒径が過小評価あるいは過大評価されてしまうことがなくなる。また、煩雑なレンズの取り替え作業や光学調整の必要がない。
画像

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研究分野
  • 光学的測定とその装置一般
  • 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
展開可能なシーズ 粒径区間のシフトや粒径区分の細分化手順を記憶させた解析部を採用して、粒子群の粒径分布を高精度に測定できるようにした粒径分布測定装置を提供する。
測定範囲の上限あるいは下限の外側に粒径分布の裾が広がるような粒子群に対しても、その程度が小さければ、レンズやセンサを取り替えることなく、より高精度にその粒径分布を測定できる。
用途利用分野 食品、薬品、セラミックス、燃料、塗料
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構, マイクロトラック・ベル株式会社, . 林 茂, 高橋 位, . 粒径分布測定装置. 特開2001-141639. 2001-05-25
  • G01N  15/02     
  • G01N  15/14     

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