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異方性解析方法及び異方性解析装置

シーズコード S100001817
掲載日 2010年10月4日
研究者
  • 長谷川 富市
技術名称 異方性解析方法及び異方性解析装置
技術概要 偏光面が互いに所定の角度をなして交差する同一波長の2つの光を、異方性を測定すべき試料の同一部分に同時に入射させるとともに、試料を透過してきた2つの光の一方の偏光面を所定の角度回転させることにより、2つの光の一方の偏光面を2つの光の他方の偏光面と一致させた状態で2つの光を重畳させ、この重畳させた光の干渉縞を観察することにより、試料の異方性を解析する。レーザ光源1から発せられたレーザ光は、ハーフミラー2を通過して2つに分割される。分割された光ビーム1は、半波長板7に至り、偏光面が90度回転された後、ミラー12で反射されてハーフミラー3に至る。分割された光ビーム2は、ミラー13で反射されて光路を90度変更させた後、ハーフミラー3に至る。ハーフミラー3では、ビーム2と、この光に対して偏光面が90度回転して直交しているビーム1とが重畳される。この重畳された光は試料Aを透過し、偏光ビームスプリッタ5に至る。ハーフミラー4では、偏光面が互いに一致したビーム1とビーム2とが重畳される。そして、この光をスクリーン6上に投影し、ビーム1とビーム2との重畳によって生じた干渉縞が生成される。
画像

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研究分野
  • 干渉測定と干渉計
展開可能なシーズ 比較的簡易な測定系で、空間の一定領域に亘る同時測定を可能とする新規な異方性解析方法及びこの方法に用いる異方性解析装置を提供する。
時間的に連続な偏光面が直交する2つの光を用いるため、電気的な同期を必要とせず、解析に用いる測定系全体を簡易化することができる。高額な装置を必要としないため、測定系全体のコストをも低減することができる。
用途利用分野 粘弾性流体応力状態異方性観測
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人新潟大学, . 長谷川 富市, . 異方性解析方法及び異方性解析装置. 特開2002-131225. 2002-05-09
  • G01N  21/21     
  • G01J   9/02     
  • G01N  21/45     

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