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高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法

シーズコード S100001912
掲載日 2010年10月6日
研究者
  • 杉原 興浩
  • 岡本 尚道
  • 冨木 政宏
技術名称 高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法
技術概要 高分子材料の温度を変化させて異なる複数の温度に保持するとともに、それぞれの温度に保持された高分子材料の表面に光を入射させて、高分子材料の表面から複数のモードの反射光を得、これら複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、高分子材料の熱光学定数を測定する。高分子材料又は高分子薄膜に対してモードライン法を適用し、複数のモードの反射光の反射角度から屈折率nを求める。そして、高分子材料又は高分子薄膜を加熱又は冷却してそれらの温度を変化させ、異なる複数の温度で操作を実施することにより、各温度Tでの屈折率nを求める。次いで、屈折率nをそれら温度Tに対してプロットしてグラフ化すると、このグラフの勾配から熱光学定数dn/dTが求められる。熱光学定数を測定する際に高分子材料又は高分子薄膜を所定の形状に切り出す必要がないため、残留応力による円二色性の問題を生じることなく、熱光学定数の正確な測定が可能となる。また、高分子材料及び高分子薄膜の熱光学定数を、それらを具えるデバイス形状のまま測定することができるので、熱光学定数の測定操作が極めて簡易化される。
画像

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研究分野
  • 偏光測定と偏光計
  • 薄膜一般
  • 高分子材料一般
展開可能なシーズ 複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、高分子光導波路デバイスなどに使用する高分子材料又は高分子薄膜の熱光学定数に対する新規な測定方法を提供する。
熱光学定数を測定する際に高分子材料又は高分子薄膜を所定の形状に切り出す必要がないので、残留応力による円二色性の問題を生じることなく、熱光学定数の正確な測定が可能となる。
用途利用分野 光集積回路、光配線板
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人静岡大学, . 杉原 興浩, 岡本 尚道, 冨木 政宏, . 高分子材料の熱光学定数測定方法及び高分子薄膜の熱光学定数測定方法. 特開2002-116164. 2002-04-19
  • G01N  25/02     
  • G01N  21/41     

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